发明名称 |
抗裂半导体封装及其制造方法和制造设备 |
摘要 |
一种改进的抗裂半导体封装、其制造方法及所用制造设备,用聚酰亚胺类材料依次涂敷装于半导体封装中的芯片、引线框的垫片、连线和焊膏,用作充当缓冲部件的涂敷材料,从而能防止层间分离和破裂。制造半导体封装的方法包括以下步骤:将半导体芯片贴到引线框的垫片上;电连接半导体芯片和引线框的内引线;在半导体芯片和引线的表面上利用喷涂涂敷液的方法形成涂敷膜;及利用红外线对所述涂敷膜进行热固化处理;将半导体芯片、引线和涂敷膜模制于封装中。 |
申请公布号 |
CN1092398C |
申请公布日期 |
2002.10.09 |
申请号 |
CN97103714.0 |
申请日期 |
1997.03.25 |
申请人 |
LG半导体株式会社 |
发明人 |
崔信 |
分类号 |
H01L21/56;H01L21/98;H01L23/28 |
主分类号 |
H01L21/56 |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
余朦 |
主权项 |
1.一种制造抗裂半导体封装的方法,包括以下步骤:将半导体芯片贴到引线框的垫片上;电连接半导体芯片和引线框的内引线;在半导体芯片和引线的表面上利用喷涂涂敷液的方法形成涂敷膜;及利用红外线对所述涂敷膜进行热固化处理;将半导体芯片、引线和涂敷膜模制于封装中。 |
地址 |
韩国忠清北道 |