发明名称 动态随机存取记忆体之缺陷修护及状态显示之方法与架构
摘要 本发明系有关一种动态随机存取记忆体之缺陷修护及状态显示之方法与架构,主要系透过一监督程式定时启动测试,并先预定一备份的记忆页以作为记忆页测试时内存资料之暂存处,将被测试记忆页内存资料复制至此预定的记忆页中,再建立一对应缓冲表(TLB)用以指出被测试记忆页与预定的备份记忆页之相对映位置,透过对应缓冲表,被测试的记忆页重配置至预定的备份记忆页,使任何程式之正常存取皆被改变至备份记忆页;当测试发现有缺陷之记忆页,监督程式将持续冻结该被测试记忆页,且任何存取至该记忆页的动作均将依据对应缓冲表而改变至预定的备份记忆页,并驱动LCD将诸如测试频率、完整报告、发现错误、记忆体利用总和及实际记忆体大小等讯息显示出,使DRAM不因错误而能维持正常存取及高度的资料完整性者。
申请公布号 TW504692 申请公布日期 2002.10.01
申请号 TW090109590 申请日期 2001.04.20
申请人 盖内蒂克瓦尔有限公司 发明人 后健慈;徐秀莹
分类号 G11C11/00 主分类号 G11C11/00
代理机构 代理人 徐贵新 台北市敦化南路一段二九四号九楼之八
主权项 1.一种动态随机存取记忆体之功能维持及显示方法,主要系由一监督程式经常性地侦测动态随机存取记忆体(DRAM)之各个记忆页内存资料完整性的运作状态,并予以即时回复维持正常运作,包括有下列步骤:a.预定一备份的记忆页以作为测试页资料之暂存位址;b.每一个测试周期开始后,被测试记忆页内存资料复制至前述之备份记忆页;c.建立一对应缓冲表用以指出被测试记忆页与预定的备份记忆页之相对映位置;并透过对应缓冲表将被测试的记忆页重配置至预定的记性页,使存取动作改变至被备份记忆页;d.若测试无误,将备份记忆页内存资料回存至被测试记忆页,并且重新开放其存取动作,及继续下一个记忆页的测试;e.若测试发现有错误,监督程式将持续冻结该被测试记忆页,且任何存取至该被测试记忆页的动作均将依据对应缓冲表面改变至预定的备份记忆页;f.显示元件显示测试结果。2.如申请专利范围第1项所述之动态随机存取记忆体之功能维持及显示方法,其中该监督程式测试记忆页系一页监督程式系一页一页地逐页检查。3.如申请专利范围第1项所述之动态随机存取记忆体之功能维持及显示方法,其中该监督程式之测试周期系由一计时器所供应。4.如申请专利范围第1项所述之动态随机存取记忆体之功能维持及显示方法,其中显示元件系为液晶显示元件(LCD)、监视器等。5.如申请专利范围第1项所述之动态随机存取记忆体之功能维持及显示方法,其中该步骤f显示之结果包括:测试频率、完整报告、发现错误、记忆体利用总和及实际记忆体大小等讯息,以使使用者即时掌握DRAM的使用状况。6.如申请专利范围第1项所述之动态随机存取记忆体之功能维持及显示方法,其中该显示元件之显示内容系保持原状直到下一个测试周期开始。7.如申请专利范围第1项所述之动态随机存取记忆体之功能维持及显示方法,其中该步骤e中被测试记忆页系被持续占用,下一个记忆页测试时,监督程式再预定另一个备份的记忆页以便被测试记忆页继续暂存资料,同时对应缓冲表并记录发现缺陷之记忆页,及下一个被测试记忆页与预定记忆页之对映关系。8.如申请专利范围第1项所述之动态随机存取记忆体之功能维持及显示方法,其中该记忆页检查更包括有不包含错误修正码检查方法,系透过正常的硬体测试,对记忆页的写入然后读出之连续动作动作,去测试是否可以正常的存取,倘若不行则表是该记忆页发生错误。9.如申请专利范围第1项所述之动态随机存取记忆体之功能维持及显示方法,其中该记忆页检查更包括有包含错误修正码检查方法系于前述监督程式将资料复制至备份记忆页时同时进行,若发生单一位元错误时,将记录该记忆页为不稳定并予以修复及加强检验;若相同的错误再发生,则将执行第1项所述之步骤e以避免单一位元转变为双位元错误;若错误消失,则执行第1项所述之步骤d。图式简单说明:图一系为DRAM之澡缸曲线图;图二系为本发明之记忆体模组架构示意图;图三系为本发明之运作步骤流程图。
地址 英属维尔京群岛