发明名称 光学式位置偏移检测装置
摘要 对任一测定标记,皆能找出最佳之共通视野区域。光学式位置偏移检测装置,包含:照明光学系统10,使测定标记之像成像的成像光学系统20,拍摄测定标记之像的CCD摄影机30,处理影像信号以测定相对基本标记之光阻标记重叠位置偏移的影像处理装置35,以及调整视野区域的视野区域调整机构。视野区域调整机构,包含:设置于照明光学系统10的视野光圈14,调整视野光圈之位置的视野光圈位置调整机构40,以及调整CCD摄影机30之位置的摄影位置调整机构45,视野光圈14与CCD摄影机之摄影面系配置在光学上共轭位置。
申请公布号 TW504751 申请公布日期 2002.10.01
申请号 TW090116833 申请日期 2001.07.10
申请人 尼康股份有限公司 发明人 福井 达雄
分类号 H01L21/027;G01M11/00;G02B13/12;G03F7/12 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人 林镒珠 台北市长安东路二段一一二号九楼
主权项 1.一种光学式位置偏移检测装置,系用以光学检测 测定标记(在第1标记上形成第2标记而构成)之前述 第1标记与前述第2标记的重叠位置偏移,其特征在 于,包含: 照明光学系统,以照明前述测定标记; 成像光学系统,以将来自前述测定标记之反射光加 以聚光,使前述测定标记之像成像; 摄影装置,系拍摄以前述成像光学系统成像之前述 测定标记的像; 影像处理装置,系处理藉前述摄影装置所得之影像 信号以测定前述第1标记与前述第2标记的重叠位 置偏移;以及 视野区域调整机构,系调整前述摄影装置之用来拍 摄前述测定标记之像之视野区域。2.如申请专利 范围第1项之光学式位置偏移检测装置,其中,前述 视野区域调整机构系由设置在前述照明光学系统 的视野光圈,与调整前述视野光圈之位置的视野光 圈位置调整机构,以及调整前述摄影装置之位置的 摄影位置调整机构所构成; 前述视野光圈与前述摄影装置之摄影面系配置在 光学共轭位置,以根据前述视野光圈位置调整机构 之前述视野光圈之位置调整,藉前述摄影位置调整 机构来进行前述摄影装置之位置调整。3.如申请 专利范围第1或2项之光学式位置偏移检测装置,其 中,前述视野区域调整机构,系根据在摄影装置之 视野区域内使L/S标记像成像时的前述L/S标记像之 非对称性之聚焦特性曲线,来调整视野区域。4.如 申请专利范围第3项之光学式位置偏移检测装置, 其中,前述视野区域调整机构,系以在摄影装置之 视野区域内使L/S标记像成像时的前述L/S标记像之 非对称性之聚焦特性曲线,具有相对视野中心成对 称之特性的方式,来调整视野区域。图式简单说明 : 图1,系显示本发明之光学式位置偏移检测装置之 构成的概略图。 图2(A)、(B)系显示上述光学式位置检测所使用之测 定标记的俯视图及截面图。 图3(A)、(B)系显示将上述测定标记旋转0度及180度 之位置的俯视图。 图4(A)-(C)系显示为进行视野区域调整所使用之L/S 标记的俯视图及截面图、与显示L/S标记像之影像 信号强度分布的图。 图5系显示L/S标记像全体之QZ曲线的图。 图6(A)-(C)系显示L/S标记像中,左、中央及右区域之 QZ曲线的图。 图7(A)-(C)系显示L/S标记像中,左、中央及右区域之 QZ曲线的图。
地址 日本