| 摘要 |
Bei einem Verfahren zum Testen einer Meßaufnahmeeinrichtung (3), welche in einem ersten Testbetriebsmodus zum Testen von Funkeinrichtungen zum einen mit einer Testeinrichtung (1) zum Testen der Funkeinrichtungen und zum anderen mit einer Funkeinrichtung gekoppelt ist, ergibt sich die Möglichkeit, eine Meßaufnahmeeinrichtung (3) für Mobiltelefone in einer realen Produktionsumgebung ohne Unterbrechung des Produktionsablaufs zu testen, dadurch, daß ein zweiter Testbetriebsmodus zum Testen der Meßaufnahmeeinrichtung (3) vorgesehen ist, in welchem die Meßaufnahmeeinrichtung (3) zum einen mit der Testeinrichtung (1) zum Testen der Funkeinrichtungen und zum anderen mit einer im wesentlichen definierten Abschlußimpedanz gekoppelt ist, wobei die Meßaufnahmeeinrichtung (3) von der Testeinrichtung (1) zum Testen von Funkeinrichtungen getestet wird. Ferner betrifft die vorliegende Erfindung eine Testeinrichtung (1) zum Testen von Funkeinrichtungen bzw. eine Verwendung derselben. |
