发明名称 A gate electrode in semiconductor device and method for forming the same
摘要 <p>본 발명은 게이트 전극의 하드 마스크막 식각시 티타늄 실리사이드막의 노출을 방지하여, 폴리머의 발생을 저지할 수 있는 반도체 소자의 게이트 전극 및 그 형성방법을 개시한다. 개시된 본 발명은, 반도체 기판; 반도체 기판상에 형성된 게이트 절연막; 상기 게이트 절연막 상에 형성된 도전층; 상기 도전층 상에 형성된 버퍼막; 및 상기 버퍼막 상부에 형성된 하드 마스크막을 포함하는 것을 특징으로 한다.</p>
申请公布号 KR100353527(B1) 申请公布日期 2002.09.26
申请号 KR19990023172 申请日期 1999.06.21
申请人 주식회사 하이닉스반도체 发明人 송운영;김재영;김진웅
分类号 H01L21/28 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人
主权项
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