发明名称 CALIBRATION OF AN ANALOGUE PROBE
摘要 <p>L'invention porte sur un procédé de calibrage d'une sonde montée sur une machine et ayant une matrice de calibrage de sonde qui met en relation les mesures effectuées par la sonde sur trois axes orthogonaux avec le système de coordonnées X, Y et Z de la machine. Une bille de référence montée sur la machine est scannée de manière bidirectionnelle par la sonde sur un ou plusieurs plans. Pour chaque plan la direction moyenne de deux vecteurs de sonde approximatifs sur le plan tourne autour d'un axe orthogonal vers ce plan jusqu'à ce que l'état apparent du matériau scanné soit le même dans chaque direction. Cette opération peut être itérative. Les valeurs moyennes des directions des vecteurs de sonde pour chaque plan tournent, ce qui permet d'obtenir une matrice de calibrage de sonde corrigée. La bille de référence est de préférence scannée de manière bidirectionnelle sur trois plans orthogonaux.</p>
申请公布号 WO2002073128(A1) 申请公布日期 2002.09.19
申请号 GB2002001013 申请日期 2002.03.13
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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