| 发明名称 |
Temperaturkompensiertes Vertikalstift-Prüfgerät |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE20204032(U1) |
申请公布日期 |
2002.09.19 |
| 申请号 |
DE20022004032U |
申请日期 |
2002.03.13 |
| 申请人 |
WENTWORTH LABORATORIES, INC. |
发明人 |
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| 分类号 |
G01R31/26;G01R1/073;G01R3/00;(IPC1-7):G01R31/28;H01L21/66;H01R11/18 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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