| 摘要 |
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Testen eines integrierten Schaltkreises (1; 21). Dabei ist zur Vermeidung eines Testvektoren-Speichers und eines On-Board-Testsystems ein Datenwort-Generator (2; 22), der deterministische Datenworte liefert, Mittel (3, 4, 5, 6; 22, 23, 24, 25, 26, 27) zur Testmuster-Generierung, die die deterministischen Datenworte so verändern, daß vorgegebene Testmuster, die Eingänge eines zu testenden integrierten Schaltkreises (1; 21) zuführbar sind, entstehen, und Vergleichsmittel (12; 30) zum Vergleichen von Test-Ausgangsmustern des integrierten Schaltkreises (1; 21) mit Soll-Ausgangsmustern.
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