| 主权项 |
1.一种PCB钻针自动光学检测机之光源结构改良,该光源系用以照射待检钻针之钻尖面,使由钻针上方之一镜头取得包括钻尖面第一层面角、第二层面角及沟槽或背景之影像,以供相配合之电脑及光学系统作检测使用,其特征在于:该光源结构分由两层不同角度之LED(发光二极体)光源构成,而利用两层中之第一层及第二层LED光源分别照射钻尖面之第一层面角及第二层面角,而能取得优良影像供检测使用者。2.如申请专利范围第1项所述之PCB钻针自动光学检测机之光源结构改良,其中该LED光源包括有复数个LED、一外环罩及电气连线,而复数个LED系环设在外环罩之内缘面而以一出射角度照射。3.如申请专利范围第1项所述之PCB钻针自动光学检测机之光源结构改良,其中该两层不同角度之LED光源可分设在不同高度。4.如申请专利范围第1或2项所述之PCB钻针自动光学检测机之光源结构改良,其中该外环罩可为高度较大之单一个体,藉以同时容纳第一、二层LED光源。5.如申请专利范围第1或2项所述之PCB钻针自动光学检测机之光源结构改良,其中该外环罩可分为两个体,并使两层不同角度之LED光源中位于相对上方之第一层LED光源的外环罩外径可小于位于相对下方之第二层LED光源的外环罩内径,供第一、二层LED光源之LED光线可分别照射至下方的钻尖面上而不被遮蔽。6.一种PCB钻针自动光学检测机之光源结构改良,该光源系用以照射待检钻针之钻尖面,使由钻针上方之一镜头取得包括钻尖面第一层面角、第二层面角及沟槽或背景之影像,以供相配合之电脑及光学系统作检测使用,其特征在于:该光源结构由两层不同角度之LED(发光二极体)光源构成,使两层中之第一层及第二增LED光源分别照射钻尖面之第一层面角及第二层面角,且该两层不同角度之LED光源各配置一高低调整装置,而藉该高低调整装置可分别微调该两层不同角度LED光源之高度,以配合不同规格之钻尖面照射而取得影像供检测使用者。7.如申请专利范围第5项所述之PCB钻针自动光学检测机之光源结构改良,其中该LED光源包括有复数个LED,一外环罩及电气连线,而复数个LED系环设在外环罩之内缘面而以一出射角度照射。8.如申请专利范围第5项所述之PCB钻针自动光学检测机之光源结构改良,其中该两层不同角度之LED光源可分为两外环罩,而位于相对上方之第一层LED光源的外环罩外径可小于位于相对下方之第二层LED光源的外环罩内径,供第一、二层LED光源之LED光线可分别照射至下方的钻尖面上。9.如申请专利范围第5项所述之PCB钻针自动光学检测机之光源结构改良,其中该高低调整装置可利用连结片而与第一、二层LED光源上之外环罩连结,使第一、二层LED光源藉由该高低调整装置之微调而调整高低位置者。10.一种PCB钻针自动光学检测机之光源结构改良,该光源系用以照射待检钻针之钻尖面,使由钻针上方之一镜头取得包括钻尖面第一层面角、第二层面角及沟槽或背景之影像,以供相配合之电脑及光学系统作检测使用,其特征在于:该光源结构系由两层不同角度之LED(发光二极体)光源构成,且该两层不同角度之LED光源分别由数LED层构成,并上下逐层排列而环设在同一外环罩本体内部;又两层中之第一层LED光源系位于该外环罩内部之上段区供照射第一面角专用,而两层中之第二层LED光源系位于外环罩内部之下段区供照射第二面角专用,且第一、二层LED光源之各LED层均可分层控制明暗,则使用时,可藉单独控制第一、二层LED光源中各某一LED层之明暗而配合照射,以达到二不同角度LED光源间相对距离的调整及高度变化,以配合不同规格之钻尖面照射而取得影像供检测使用者。11.如申请专利范围第10项所述之PCB钻针自动光学检测机之光源结构改良,其中第一、二层LED光源中每一层LED光源包括有复数个LED及电气连线,而复数个LED系环设在外环罩之内缘面而向下照射。12.如申请专利范围第10项所述之PCB钻针自动光学检测机之光源结构改良,其中该第一层LED光源可由4~7层LED构成。13.如申请专利范围第10项所述之PCB钻针自动光学检测机之光源结构改良,其中该第二层LED光源可由2~3层LED构成。图式简单说明:第一图:系一钻针之钻尖面的侧视图。第二图:系一钻针钻尖面之影像示意图。第三图:系本创作第一层实施例之立体结构图。第四图:系本创作第一层实施例之侧面示意图。第五图:系本创作第二层实施例之立体结构图。第六图:系本创作第二层实施例之侧面示意图。 |
