发明名称 加热调理器
摘要 本发明之加热调理器是利用小型温度检测器可以检测出烹调室内数个位置的温度,以提升使用的便利性,更进一步谋求温度检测器之检测精度的提升。温度检测器20系在其内部具有数个,例如8个红外线侦测元件,该温度检测器20系透过不锈钢制的安装板17组装于构成烹调室4之内箱3的右侧壁3a后部的上方,形成由斜上方检测烹调室4内数个位置之温度的配置。支承温度检测器20的右侧壁3b、与支承旋转体13及旋转台14的烹调室4之底面壁3c系折弯同一钢板所形成。
申请公布号 TW502100 申请公布日期 2002.09.11
申请号 TW089118751 申请日期 2000.09.13
申请人 东芝股份有限公司 发明人 古田和浩;原基也;殿垣内和彦
分类号 F24C7/02 主分类号 F24C7/02
代理机构 代理人 林志刚 台北巿南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种加热调理器,其特征为:该加热调理器具备:收纳被烹调物的烹调室;及提供微波至该烹调室内用以加热被烹调物的微波产生装置;及在前述烹调室的底部被设置成:可在其被支承于该烹调室之底面壁的状态下,由驱动装置所旋转之用来放置前述被烹调物的旋转体;以及具有数个红外侦测元件且支承于前述烹调室的侧壁,可藉由前述红外线侦测元件检测出前述烹调室内数处位置之温度的温度检测器,并且,用来支承前述温度检测器之前述烹调室的侧壁、及用来支承前述旋转体之前述烹调室的底面壁,系将同一材料折弯所形成的。2.一种加热调理器,其特征为:该加热调理器具备:收纳被烹调物的烹调室;及提供微波至该烹调室内用以加热被烹调物的微波产生装置;以及具有数个红外线侦测元件且透过安装板支承于前述烹调室的侧壁,可藉由前述红外线侦测元件检测出前述烹调室内数处位置之温度的温度检测器,并且,前述安装板系藉由热膨胀系数及热传导系数较形成前述烹调室侧壁的材料更小的材料所构成的。3.一种加热调理器,其特征为:该加热调理器具备:收纳被烹调物的烹调室;及提供微波至该烹调室内用以加热被烹调物的微波产生装置;及具有数个红外线侦测元件且配置于前述烹调室的侧壁外侧,前述红外线侦测元件透过形成于该侧壁上之开口部来检测烹调室内数处位置温度的温度检测器;以及被设置于前述烹调室的侧壁上用来固定托架的数段托架支承部,并且,前述开口部系被设置在前述复数个的托架支承部之中,较之最上段的托架支承部更下方的位置。图式简单说明:图1:本发明中之实施例,系图2中X-X剖面线之视图。图2:上视剖面图。图3:门呈开启状之外观斜视图。图4:温度检测器之正视图。图5:温度检测器之侧视图。
地址 日本