发明名称 Method of forming an inter layer insulating film in a semiconductor device
摘要 <p>본 발명은 하부 구조가 형성된 반도체 기판상에 폴리 층간 절연막으로 무기 SOG막을 증착하는 단계와, 상기 무기 SOG막 내의 불순물을 제거하기 위해 급속 열처리 또는 반응로 열처리 어닐 공정을 수행하는 단계를 포함하여 이루어진 반도체 소자의 층간 절연막 형성 방법을 제공한다.</p>
申请公布号 KR100351239(B1) 申请公布日期 2002.09.10
申请号 KR19990035812 申请日期 1999.08.27
申请人 주식회사 하이닉스반도체 发明人 유경식;김연수
分类号 H01L21/31 主分类号 H01L21/31
代理机构 代理人
主权项
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