发明名称 Feldeffekt-Halbleiterbauelement
摘要 Feldeffekt-Halbleiterbauelement (2), bei dem der Schaltvorgang durch eine von außen über eine Gate-Widerstandsschaltung (5) zugeführte Gate-Spannung erfolgt, um zwischen einem isolierten Gate (G) und einem Emitter (E) fließende Lade- und Entladeströme zu begrenzen, wobei das FET-Halbleiterbauelement folgendes aufweist: einen isolierten Gate-Elektrodenbereich, der von einem Gate-Elektrodenanschluß (2a) und einer diesem gegenüber isolierten Gate-Elektrode (2b) gebildet ist; dabei ist die Gate-Widerstandsschaltung (5) zwischen dem Gate-Elektrodenanschluß (2a) und die Gate-Elektrode (2b) so eingefügt, daß sie integral mit dem isolierten Gate-Elektrodenbereich ausgebildet ist; und die Gate-Widerstandsschaltung (5) weist einen ersten Gate-Widerstand (6) und eine mit dem ersten Gate-Widerstand (6) parallel verbundene erste Reihenschaltung auf, die einen zweiten Gate-Widerstand (8) und eine erste Diode (7) aufweist, so daß eine Anode (A) der ersten Diode (7) mit der Gate-Elektrode (2b) verbunden ist.
申请公布号 DE10151700(A1) 申请公布日期 2002.09.05
申请号 DE2001151700 申请日期 2001.10.19
申请人 MITSUBISHI DENKI K.K., TOKIO/TOKYO 发明人 IWAGAMI, TORU;TOMOMATSU, YOSHIFUMI
分类号 H01L27/04;H01L21/822;H01L27/02;H01L27/06;H01L29/739;H01L29/78;(IPC1-7):H01L23/62;H01L21/824 主分类号 H01L27/04
代理机构 代理人
主权项
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