发明名称 |
Feldeffekt-Halbleiterbauelement |
摘要 |
Feldeffekt-Halbleiterbauelement (2), bei dem der Schaltvorgang durch eine von außen über eine Gate-Widerstandsschaltung (5) zugeführte Gate-Spannung erfolgt, um zwischen einem isolierten Gate (G) und einem Emitter (E) fließende Lade- und Entladeströme zu begrenzen, wobei das FET-Halbleiterbauelement folgendes aufweist: einen isolierten Gate-Elektrodenbereich, der von einem Gate-Elektrodenanschluß (2a) und einer diesem gegenüber isolierten Gate-Elektrode (2b) gebildet ist; dabei ist die Gate-Widerstandsschaltung (5) zwischen dem Gate-Elektrodenanschluß (2a) und die Gate-Elektrode (2b) so eingefügt, daß sie integral mit dem isolierten Gate-Elektrodenbereich ausgebildet ist; und die Gate-Widerstandsschaltung (5) weist einen ersten Gate-Widerstand (6) und eine mit dem ersten Gate-Widerstand (6) parallel verbundene erste Reihenschaltung auf, die einen zweiten Gate-Widerstand (8) und eine erste Diode (7) aufweist, so daß eine Anode (A) der ersten Diode (7) mit der Gate-Elektrode (2b) verbunden ist. |
申请公布号 |
DE10151700(A1) |
申请公布日期 |
2002.09.05 |
申请号 |
DE2001151700 |
申请日期 |
2001.10.19 |
申请人 |
MITSUBISHI DENKI K.K., TOKIO/TOKYO |
发明人 |
IWAGAMI, TORU;TOMOMATSU, YOSHIFUMI |
分类号 |
H01L27/04;H01L21/822;H01L27/02;H01L27/06;H01L29/739;H01L29/78;(IPC1-7):H01L23/62;H01L21/824 |
主分类号 |
H01L27/04 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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