发明名称 UN DISPOSITIVO PARA MEDIR UN PARAMETRO DE PROCESO DE UN MATERIAL Y UN METODO DE CARACTERIZACION DEL DISPOSITIVO.
摘要 Un sensor de conducto vibrante auto-caracterizante 5 para medir un parámetro de proceso en un sistema 1 de procesamiento de material proveniente el sistemade procesamiento de material 1 y una pluralidad de transductores de movimientos 105 - 105operativos para producir una pluralidad de senales de movimientos querepresentan movimientos en una pluralidad de ubicaciones en el conducto 103A -103B. Un estimador 30 de parámetros modales está configurado para recibir lapluralidad de senales de movimiento y es operativo para estimar un parámetro modal a partir de la pluralidad de senales de movimiento recibidas. El parámetromodal, por ejemplo, un parámetro de filtro modal o un parámetro de proyeccion de fuerza, relaciona el comportamiento del conducto con el comportamiento de unadisposicion de un unico grado de libertad (SDOF). Un estimador 40 de parámetros de proceso está configurado para recibir la pluralidad e senales de movimiento,tiene respuesta al estimador de parámetros de proceso estáconfigurado para recibir la pluralidad de senales de movimiento, tiene respuesta al estimador deparámetro modal y es operativo para estimar un parámetro de proceso asociado con un material en el conducto a partir de la pluralidad de senales de movimientorecibidas de acuerdo al parámetro modal estimado. Técnicas para estimar un parámetro modal incluyen una técnica de estimacion del vector modal recíprocomodificado (MRMV) y una técnica de filtrado modal adaptativo.
申请公布号 AR022053(A1) 申请公布日期 2002.09.04
申请号 AR2000P103474 申请日期 2000.07.07
申请人 MICRO MOTION, INC. 发明人
分类号 G01F1/84;G01N9/00;(IPC1-7):G01F1/84 主分类号 G01F1/84
代理机构 代理人
主权项
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