| 主权项 |
1.一种印刷电路板测试器,更明确地说,用以测试大面积非元件型电路板,该测试器至少包含:一网栅图案,其被提供有被安排呈一预定图案之接触点,于每一例子中几个接触点系电气连接至一直线扫瞄通道,及一转接器及/或一转换器系被安装至该网栅图案,一电子分析器,经由该扫瞄通道电气连接至该等接触点,一待测试之电路板,该转接器及/或该转换器可以应用至其上,使得该转接器及/或转换器产生电路板测试点之电气接点于该电路板上至该网栅图案之接触点,及一电气连接机构,用以电气连接相互间在电气上相接之多个扫描通道组成之群组,以使一扫瞄通道群组仅与该电子分析器之一接点相接。2.如申请专利范围第1项所述之测试器,其中上述之用以电气连接至少两扫瞄通道之机构包含一滙流排板,其包含几个滙流排导线,较佳并联连接,其可以被选择以接触该等扫瞄通道。3.如申请专利范围第2项所述之测试器,其中上述之一滙流排转接器,藉由该转接器,扫瞄通道可以选择地连接至滙流排导线,该滙流排转接器系被安排于滙流排板及网栅基座之间,该网栅基座包含网栅图案。4.如申请专利范围第2项所述之测试器,其中上述之滙流排板系被提供以接触元件,例如用以直接接触一包含扫瞄通道之网栅基座之接触销。5.如申请专利范围第1项所述之测试器,更包含:一网栅基座,其包含:一测试区,其中连接至该等扫瞄通道之接触点系被安排以电气接触予以测试之电路板,及一连接区,其中连接至扫瞄通道之其他接触点系被提供用以接触该滙流排导线。6.如申请专利范围第4项所述之测试器,更包含:一网栅基座,其包含:一测试区,其中连接至该等扫瞄通道之接触点系被安排以电气接触予以测试之电路板,及一连接区,其中连接至扫瞄通道之其他接触点系被提供用以接触该滙流排导线。7.如申请专利范围第5项所述之测试器,其中上述之用以接触电子分析器之接点系被提供于该连接区中,于该网栅基座相对于用以接触滙流排导线接点之另一侧。8.如申请专利范围第6项所述之测试器,其中上述之用以接触电子分析器之接点系被提供于该连接区中,于该网栅基座相对于用以接触滙流排导线接点之另一侧。9.如申请专利范围第7项所述之测试器,其中上述之接点系安排呈于网栅基座上之相向对,每一被连接至一扫瞄通道。10.如申请专利范围第8项所述之测试器,其中上述之接点系安排呈于网栅基座上之相向对,每一被连接至一扫瞄通道。11.如申请专利范围第5项所述之测试器,其中上述之测试区具有至少250,000mm2之表面积。12.如申请专利范围第10项所述之测试器,其中上述之测试区具有至少250,000mm2之表面积。13.如申请专利范围第1项所述之测试器,其中上述之用以接触予以被测试之电路板之接点系被安排于不大于十分之一寸之网栅间隔。14.如申请专利范围第12项所述之测试器,其中上述之用以接触予以被测试之电路板之接点系被安排于不大于十分之一寸之网栅间隔。图式简单说明:第1图为横向于扫瞄通道所取之网栅基座或一部份之剖面图,第2图为一简化示意图,例示出一阵列之扫瞄通道及一滙流排板彼此连接几扫瞄通道,及第3图为示于第2图中之配置之前视图(即由其中箭头A方向观察)。 |
