发明名称 METHOD FOR READING A MEMORY CELL OF A SEMICONDUCTOR MEMORY, AND SEMICONDUCTOR MEMORY
摘要 <p>Bei einem Halbleiterspeicher besteht eine kapazitive Kopplung zwischen den weitgehend parallel verlaufenden Bitleitungen (38, 39). Äußere Abschnitte (13, 14, 36, 37) der Bitleitungen sind über jeweilige Schalter (27, 28, 29, 30) mit dem dazwischen angeordneten Leseverstärker (10) verbunden. Um die kapazitive Einkopplung durch andere Bitleitungen beim Auslesen einer Speicherzelle (15) vor dem Beginn der Verstärkung durch den Leseverstärker (10) in die nicht mit der auszulesenden Speicherzelle (15) gekoppelte Bitleitung (39) möglichst gering zu halten, sind die Schalter (28, 29) in jener Bitleitung (39) leitend geschaltet. Während der Verstärkungsphase wird der entfernte äußere Abschnitt (37) jener Bitleitung (39) über den entsprechenden Schalter (29) abgeschaltet. In einer Ausführungsform wird die Kapazität der nicht mit der auszulesenden Speicherzelle (15) verbundenen Bitleitung (39) weiter erhöht, indem eine Vorladeschaltung (31) zusätzlich aktiviert ist.</p>
申请公布号 WO2002067264(A2) 申请公布日期 2002.08.29
申请号 DE2002000486 申请日期 2002.02.11
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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