发明名称 DEVICE FOR X-RAY ANALYTICAL APPLICATIONS
摘要 <p>Die Erfindung betrifft eine Anordnung für Röntgenanalytische Anwendungen, wie z.B. für die Röntgenanalytische Anwendungen, wie z.B. für die Röntgendiffraktometrie, die Reflektometrie und/oder die Fluoreszenzanalyse. Aufgabengemäß soll die Röntgenstrahlung eine Punktbrennfleckes einer Röntgenstrahlquelle mit hoher Genauigkeit monochromatisiert, fokussiert und gegebenenfalls in Parallelstrahlung erhöhter Photendichte umgewandelt werden. Zur Lösung dieser Aufgabe wird parallele Röntgenstrahlung mit punktförmigem Primärstrahlquerschnitt auf ein konkav, in Parabelform gekrümmtes reflektierendes Element gerichtet, mit dem die Röntgenstrahlung mittels eines auf dem reflektierenden Element ausgebildeten Gradienten-Multischichtsystem fokussiert und monochromatisiert wird. Zwischen der Röntgenstrahlquelle und dem reflektierenden Element ist mindestens eine Blende angeordnet.</p>
申请公布号 WO2002065481(A1) 申请公布日期 2002.08.22
申请号 DE2002000572 申请日期 2002.02.14
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
地址