发明名称 利用在卡上装有联合测试执行组逻辑的插入卡对总线进行联合测试执行组测试
摘要 插入式JTAG测试卡(200)包括JTAG边界扫描电路(230),这种电路可以用来将JTAG测试数据驱动到那些与外设插槽(160,180,190)相连的总线(170,195)连线上。一个或多个的JTAG插入式测试卡(200)能用来校验总线(170,195)上每一个点对点连接的完整性,而这些总线的端点就是外设插槽。在一种有益的实施方案中,这种插入式JTAG测试卡(200)模拟一个双列直插式内存模块(DIMM)或者单列直插式内存模块(SIMM)卡,这种(DIMM)或(SIMM)卡含有扫描测试缓冲电路(230),但实际上并没有内存芯片,因此这种廉价的插入式卡(200)可以用来在工业制造水平上为多个主板(600)提供JTAG测试。在一种特定的优选实施方案中,JTAG边界扫描缓冲电路(230),例如SN74ABT8245,更多地用作为测试电路,而不是用作它们预期的接口电路。
申请公布号 CN1089440C 申请公布日期 2002.08.21
申请号 CN96192903.0 申请日期 1996.11.13
申请人 三星电子株式会社 发明人 小·L·R·莫特
分类号 G01R31/28;G06F11/22 主分类号 G01R31/28
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 程天正;王岳
主权项 1.一种利用JTAG来测试电路板上平行总线的点对点连接的系统,该系统包括:所述电路板,板上有需要利用JTAG进行测试的电路;位于所述电路板上的所述平行总线,所述平行总线包括多个连接接脚和多个使所述连接接脚互相连接的电路线;一个或多个未占用的插入式外设槽或扩展槽,这些插槽与所述平行总线连接接脚有电连接;插入式JTAG测试卡,它与所说的未占用的各插槽中的一个相连以便与其形成电连接,该测试卡包括驱动JTAG测试电路,该测试电路通过与所述测试卡相接合的插槽将测试信号输送到所述平行总线的连接接脚;第一组连接器接脚位于所述JTAG测试卡上,用于接收JTAG控制输入信号和至少一个JTAG数据信号;在所述JTAG测试卡上的至少一个连接器接脚,用于从所述的JTAG测试卡输出至少一个所述JTAG控制信号;接收JTAG测试电路,它与上述电路板上所述的平行总线相接,其中上述测试卡所述的测试输出信号被上述接收JTAG测试电路接收,用以测试在所述电路上所述平行总线的点对点连接是否具有电气完整性。
地址 美国加利福尼亚州
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