发明名称 高密度光记录介质和在其上记录数据的方法
摘要 提供一种高密度光记录介质和在该光记录介质上记录数据的方法。所述光记录介质具有有着光反射系数的多个数据记录/再现表面,所述光穿过包含在发射光的光源和从所述多个数据记录/再现表面中选择的一个记录/再现表面之间的数据记录/再现表面的凹坑区、平台/凹槽区、以及记录数据的平台/凹槽区,所述反射系数满足等式:r1≥r2≥r3和[(r1-r3)/r1]≤0.2,假设入射在从多个数据记录/再现表面选择的所述数据记录/再现表面的各个区域上的光反射系数表示为r1、r2和r3。
申请公布号 CN1365107A 申请公布日期 2002.08.21
申请号 CN01144045.7 申请日期 2001.12.28
申请人 三星电子株式会社 发明人 李坰根;朴仁植;黄仁吾;朴昶敏
分类号 G11B7/24;G11B7/004 主分类号 G11B7/24
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 马莹;邵亚丽
主权项 1、一种光记录介质,具有有着光反射系数的多个数据记录/再现表面,所述光穿过包含在发射光的光源和从所述多个数据记录/再现表面中选择的一个记录/再现表面之间的数据记录/再现表面的凹坑区、平台/凹槽区、以及记录数据的平台/凹槽区,所述反射系数满足等式:r1≥r2≥r3和<math> <mrow> <mo>[</mo> <mfrac> <mrow> <mo>(</mo> <mi>r</mi> <mn>1</mn> <mo>-</mo> <mi>r</mi> <mn>3</mn> <mo>)</mo> </mrow> <mrow> <mi>r</mi> <mn>1</mn> </mrow> </mfrac> <mo>]</mo> <mo>&le;</mo> <mn>0.2</mn> </mrow> </math> 假设入射在从多个数据记录/再现表面选择的所述数据记录/再现表面的各个区域上的光反射系数表示为r1、r2和r3。
地址 韩国京畿道