发明名称 Method and apparatus for locating faulty pins in a test adapter
摘要 <p>Zum Lokalisieren von möglicherweise fehlerhaften Stiften (5) in einem Prüfadapter (7; 8), der zum Testen von Leiterplatinen (3) in einen Tester (1, 2) eingesetzt wird, werden vom Tester (1, 2) ausgegebene Koordinaten von Fehlerstellen einer X-Y-Steuerung (17) einer Antriebseinrichtung (21-25) zugeführt, die eine entsprechende X-Y-Relativbewegung zwischen einem Lichtsender (16) und dem Prüfadapter (7; 8) herbeiführt, wobei mit Hilfe des so in die durch die Koordinaten gegebene Position in Ausrichtung zum jeweiligen Stift (5) gebrachten Lichtsenders (16) der Stift (5) durch Beleuchten angezeigt wird. Dieser Stift (5) wird dann mit Hilfe eines Stiftziehwerkzeuges in Form einer Hülse (36) entfernt. &lt;IMAGE&gt;</p>
申请公布号 EP1231474(A2) 申请公布日期 2002.08.14
申请号 EP20020450025 申请日期 2002.02.06
申请人 AT & S AUSTRIA TECHNOLOGIE & SYSTEMTECHNIKAKTIENGESELLSCHAFT 发明人 BAUMGARTNER, FRIEDRICH
分类号 G01R3/00;G01R1/073;G01R35/00;(IPC1-7):G01R1/073;B23P19/02;B23P19/00;B25B27/00;B25B27/14;B25B27/20 主分类号 G01R3/00
代理机构 代理人
主权项
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