发明名称 | 具有高角度分辨率和快响应时间的表面等离子体共振检测 | ||
摘要 | 提出了一种具有高分辨率和快响应时间的检测表面等离子共振的设备和方法,用于检测分子或分子中的构造变化。光源(14)发出的光通过棱镜聚焦到一个金属薄膜(15)上,在该膜上要检测的样本分子被吸收。激光/入射光的总内部反射是使用一个差分位置或强度敏感的光电检测设备,而不是在以前工厂中广泛使用的一个单单元或一个光电检测器阵列(12)来收集。差分位置或强度敏感的光电检测设备(12)的差信号与和信号之比提供了对由分子吸收到金属膜(15)上或吸收分子中构造变化而导致的表面等离子体共振角度偏移的测量。本发明不需要数字拟合来计算振荡角度,同时装置结构紧凑,不受背景光的影响。本发明的方法和传感器可以用在众多的生物、生物化学和化学应用之中,例如可以研究对分子中细微构造变化和电子转移反应的测量。 | ||
申请公布号 | CN1364233A | 申请公布日期 | 2002.08.14 |
申请号 | CN00807778.9 | 申请日期 | 2000.05.16 |
申请人 | 佛罗里达国际大学董事会 | 发明人 | 陶农建;S·布萨尔德;黄文略 |
分类号 | G01N21/00 | 主分类号 | G01N21/00 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 郑立柱;张志醒 |
主权项 | 1.一种检测表面等离子体共振的方法,包括下列步骤:(a)将电磁发射光束聚焦到金属材料层上,在层上是可选样本材料的;(b)使用差分位置或强度敏感的光电检测设备来检测由金属材料层反射的电磁放射束;(c)记录差分位置或强度敏感的光电检测设备得到的第一个A位置或强度信号的强度和第一个B位置或强度信号的强度;(d)定位差分位置或强度敏感的光电检测设备,使其表面等离子体共振强度最小值接近差分位置或强度敏感的光电检测设备的中心,这样A位置或强度信号与B位置或强度信号的差近似为零;以及(e)随后检测由于表面等离子体共振角度偏移而产生的强度分布的变化。 | ||
地址 | 美国佛罗里达州 |