Vorrichtung und Verfahren zur Prüfung von Einzelbitfehlern in integrierten Speicherschaltungen,申请号DE19966017336T-传众专利搜索

发明名称	Vorrichtung und Verfahren zur Prüfung von Einzelbitfehlern in integrierten Speicherschaltungen
摘要
申请公布号	DE69617336(T2)	申请公布日期	2002.08.08
申请号	DE19966017336T	申请日期	1996.08.09
申请人	STMICROELECTRONICS, INC.	发明人	MCCLURE, DAVID CHARLES;LYSINGER, MARK ALAN;SIGMUND, FRANK JOSEF;MICHLOWSKY, JOHN ANTHONY
分类号	G11C11/413;G11C29/00;G11C29/04;G11C29/14;G11C29/30;(IPC1-7):G11C29/00	主分类号	G11C11/413
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