发明名称 Fabricating method of semiconductor device
摘要 <p>본 발명은 반도체소자의 제조방법에 관한 것으로, 비아콘택형성공정에서 실릴레이션 공정중에 형성된 실리콘산화막을 식각마스크로 사용하여 감광막과 저유전체막을 연속적으로 식각할 수 있고, 기존의 하드마스크를 사용하지 않기 때문에 공정의 단순화 및 원가절감할 수 있으며, 특히 금속층의 미세패턴형성공정에 실릴레이션공정을 적용하여 초점심도(depth of focus, DOF), EL(energy latitude) 등의 공정마진을 향상시키고, 감광막 패턴 하부의 단차에 영향받지 않고 패턴을 형성하여 공정을 안정화시키는 기술이다.</p>
申请公布号 KR100347246(B1) 申请公布日期 2002.08.07
申请号 KR19990030573 申请日期 1999.07.27
申请人 주식회사 하이닉스반도체 发明人 김명수;김형기;김형수;백기호
分类号 H01L21/32 主分类号 H01L21/32
代理机构 代理人
主权项
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