| 主权项 |
1.一种积体电路,其特征为包括:与电源电压(VDD,VSS)的两极中的每一个对应的第一连接表面(31,32),根据所述信号只与一个开关(38)相连接的第二连接表面(36),所述开关(38)受测试信号(TEST)的控制,从而在此电路之测试驱动时此开关(38)接通而在正常驱动时此开关(38)断开,和功能性单元,其带有此种藉由电压注入而可单向转换的部件(42,43),所述电压(VTEST)注入用的转换部件的接线端子是与开关(38)耦接。2.如申请专利范围第1项所述的积体电路,其中藉由电压注入而可单向转换的部件(42,43)之一在输出状态下形成导通的电流通道而且在实现电压注入后形成空负载运行的电流通道。3.如申请专利范围第1或2项所述的积体电路,其中为使部件(42,43)单向转换所需要的电压(VTEST)是与电源电压(VDD,VSS)不同的。4.如申请专利范围第3项所述的积体电路,其中所需的电压(VTEST)数値上大于电源电压(VDD,VSS)。5.一种测试积体电路(2)所用之测试设备,包括自动测试装置(1),该测试装置具有:引向电源电压(VDD,VSS,VTEST)中一个极所用的接线端子(21,22,26);和引导此种具有许多状态的信号所用的接线端子(23,24,25),所述测试设备还包括如申请专利范围第1-4项中任一项所述的积体电路(2),其特征为:第二连接表面(36)与接线端子(26)相连,接线端子(26)引向该自动测试装置(1)的电源电压上的一个极(VTEST)。图式简单说明:第1图 自动测试装置1以及一个受测试的积体半导体电路2。 |
