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发明名称 Aftastende omgevings-elektronenmicroscoop.
摘要
申请公布号 NL1007374(C2) 申请公布日期 2002.07.30
申请号 NL19971007374 申请日期 1997.10.27
申请人 NIKON CORPORATION 发明人 KEITARO HARA
分类号 H01J37/16;H01J37/244;H01J37/28;(IPC1-7):H01J37/26 主分类号 H01J37/16
代理机构 代理人
主权项
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