发明名称 DELAY DEVICE SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE SEMICONDUCTOR DEVICE AND OSCILLOSCOPE
摘要 <p>본 발명은 입력된 전송신호를 지연하는 지연 디바이스에 관한 것으로, 2개의 전원전압 V및 V(V>V)에 의해 구동되며 입력된 상기 전송신호를 지연하며 직렬로 접속된 복수의 지연소자, 및 복수의 지연소자의 출력에 대해 전원전압 V보다 크고 전원전압 V보다 작은 소정의 전압을 출력하고 지연소자의 각 출력에 대해 각각 접속한 복수의 부가회로를 구비하며, 지연소자는 입력된 전압에 대응하여 2치의 출력전압 중 어느 하나를 출력하는 디지털회로를 가지고, 부가회로가 디지털회로의 출력이 2치의 출력전압 중 한쪽에서 다른 쪽으로 반전하는 스레시홀드 전압에 거의 일치하는 전압을 출력하는 지연 디바이스를 제공한다.</p>
申请公布号 KR100346632(B1) 申请公布日期 2002.07.26
申请号 KR19990050611 申请日期 1999.11.15
申请人 가부시키가이샤 아드반테스트 发明人 오카야스도시유키;스다마사카쓰
分类号 G01R31/319;H03H11/26;H03K5/00;H03K5/13;H03K5/14 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
主权项
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