发明名称 |
Herstellungsverfahren für eine integrierte Schaltung |
摘要 |
Die vorliegende Erfindung schafft ein Herstellungsverfahren für eine integrierte Schaltung mit den Schritten: Bereitstellen eines Halbleitersubstrats (1) mit einem zu kontaktierenden Schaltungsbereich (SS); Vorsehen einer Isolationsschicht (IS) auf der Oberfläche des Halbleitersubstrats (1); Vorsehen eines Kontaktlochs (KL) in der Isolationsschicht (IS) zum Kontaktieren des Schaltungsbereichs (SS); Vorsehen eines isolierenden Spacerbereichs (10') zumindest im oberen Bereich des Kontaktlochs (KL); Vorsehen von mindestens drei Leitungsgräben (BG1; BG2; BG3), von denen ein erster Leitungsgraben (BG1) benachbart zum Kontaktloch (KL), ein zweiter Leitungsgraben (BG2) durch das Kontaktloch (KL) und ein dritter Leitungsgraben (BG3) benachbart zum Kontaktloch (KL) verläuft, wobei der Spacerbereich (10') zwischen der zwischen dem ersten und dem zweiten Leitungsgraben (BG1; BG2) und dem zweiten und dem dritten Leitungsgraben (BG2; BG3) belassen wird; Auffüllen der Leitungsgräben (BG1; BG2; BG3) mit einem Leitungsmaterial; und chemisch-mechanisches Polieren des Leitungsmaterials zum Erzeugen dreier getrennter Leitungen (BL1; BL2: BL3).
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申请公布号 |
DE10055290(C1) |
申请公布日期 |
2002.07.25 |
申请号 |
DE20001055290 |
申请日期 |
2000.11.08 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
HILLIGER, ANDREAS;STAUB, RALF;LUEKEN, ELKE |
分类号 |
H01L21/768;H01L21/60;H01L21/8242;H01L27/108;(IPC1-7):H01L21/283;H01L21/824 |
主分类号 |
H01L21/768 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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