发明名称 integrated circuit capable of self-testing
摘要 <p>본 발명은 자기 진단이 가능한 집적 회로에 관한 것으로 이를 위한 본 발명은 진단 대상이 되는 내부 모듈의 자기 진단이 가능한 집적 회로에 있어서, 제1선택신호에 따라 상기 내부 모듈에 외부 진단 프로그램 또는 내부 프로그램을 선택적으로 출력하는 제1멀티플렉서; 상기 내부 모듈에서 실행될 진단 프로그램의 예정된 실행순서와, 상기 예정된 진단 프로그램의 실행에 필요한 데이터 및 상기 진단 프로그램이 실행된 후, 그 실행 순서를 저장하기 위한 메모리; 진단 예상 패턴을 발생하여 상기 메모리에 저장하고, 진단 프로그램 실행 순서 및 진단 예상 패턴을 비교한 후, 그 비교 결과를 출력하는 비스트 콘트롤러; 상기 내부 모듈에 의해 진단 프로그램이 수행된 후, 그 수행 결과를 저장하기 위한 레지스터; 및 제2선택신호에 따라 상기 비스트 콘트롤러 또는 상기 레지스터의 출력을 선택적으로 출력하는 제2멀티플렉서를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.</p>
申请公布号 KR100345673(B1) 申请公布日期 2002.07.24
申请号 KR19990025796 申请日期 1999.06.30
申请人 주식회사 하이닉스반도체 发明人 임채덕
分类号 H03K19/003 主分类号 H03K19/003
代理机构 代理人
主权项
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