| 发明名称 | 用于检测存储器的测试装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于测试一种在衬底(1)上或内形成的存储器的测试装置(4),存储器具有大量存储单元(2),其中此测试装置按照测试程序对存储器进行测试,测试装置(4)具有一解释程序装置,它按照测试程序驱动并测试存储器,测试程序存储于待测存储器中。本发明还涉及一种用于测试存储器的方法以及一种包含具有大量形成在公共衬底上的电路(1a),尤其是存储器的电路装置,该电路装置在这些电路之间具有中间空间(55)用于将这些电路分开,其中在中间空间(55)中形成引线(51)将单个电路(1a)相互连接和/或与一个或多个附加电路连接。 | ||
| 申请公布号 | CN1359524A | 申请公布日期 | 2002.07.17 |
| 申请号 | CN00809791.7 | 申请日期 | 2000.06.28 |
| 申请人 | 因芬尼昂技术股份公司 | 发明人 | C·奥尔霍夫;P·珀赫米勒 |
| 分类号 | G11C29/00;G01R31/3185 | 主分类号 | G11C29/00 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 马铁良;张志醒 |
| 主权项 | 1、用于检测形成在衬底(1)上或中的存储器的测试装置(4)，具有多个存储单元(2)，其中测试装置按照检测程序进行存储器的检测，其特征在于，测试装置(4)具有解释程序装置，它按照检测程序运行并测试存储器，其中检测程序保存在待测存储器中。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||