发明名称 一种压合液晶显示器的前面玻璃基板与背面玻璃基板的方法与装置
摘要 本发明提出一种压合液晶显示器之第一与第二玻璃基板的装置与方法。该第一玻璃基板上有复数个间隙测量点。本发明之方法包含有下列步骤:提供一参数分布,用以使该第一玻璃基板与该第二玻璃基板进行压合;于该第一与第二玻璃基板进行压合时,量测于该等间距测量点处之该第一与第二玻璃基板之间的间隙,以得到复数相对应于该等间距测量点之间隙值;以及当该等间隙值不合乎一预定规格时,依据该等间隙值,调整该参数分布,以改变该等间隙值。藉由本发明之方法,第一与第二玻璃基板之间的间隙仅以及间隙平整度将可受到良好的控制。
申请公布号 TW494255 申请公布日期 2002.07.11
申请号 TW089117745 申请日期 2000.08.31
申请人 瀚宇彩晶股份有限公司 发明人 陈立宜;游国仁
分类号 G02F1/13 主分类号 G02F1/13
代理机构 代理人 洪澄文 台北巿信义路四段二七九号三楼
主权项 1.一种控制基板压合时之间隙的方法,适用于压合一第一基板以及一第二基板,该第一基板上设置有复数个间隙测量点,该方法包含有下列步骤:提供一参数分布,用以使该第一基板与该第二基板进行压合;于该第一与第二基板进行压合时,量测于该等间距测量点处之该第一与第二基板之间的间隙,以得到复数相对应于该等间距测量点之间隙値;以及当该等间隙値不合乎一预定规格时,依据该等间隙値,调整该参数分布,以改变该等间隙値。2.如申请专利范围第1项之方法,其中,该第一与第二基板系为一液晶显示器(liquid crystal display, LCD)之前面玻璃基板与背面玻璃基板。3.如申请专利范围第1项之方法,其中,该参数分布系为该第一基板上之压力分布、温度分布或是加热功率分布。4.如申请专利范围第1项之方法,其中,量测试等间距测量点处之该第一与第二基板之间的间隙系以光学干涉方法量测。5.如申请专利范围第1项之方法,其中,该预定规格系为该等间隙値构成一特定之平整度或是该等间隙値不超出一定范围。6.一种基板压合装置,适用于压合一第一基板以及一第二基板,该第一基板上设置有复数个间隙测量点,该装置包含有:一控制器,用以提供一参数分布;一压合器,以该参数分布的条件下,压合该第一与第二基板;以及一监测器,用以量测该等间隙测量点处之该第一与第二基板之间的间隙,以得到相对应之复数个间隙値;其中,当该等间隙値不合乎一预定规格时,该控制器调整该参数分布,藉以调整该等间隙値。7.如申请专利范围第6项之装置,其中,该第一与第二基板系为一液晶显示器(liquid crystal display, LCD)之前面玻璃基板与背面玻璃基板。8.如申请专利范围第6项之装置,其中,该压合器包含有一压合板与一压合座,用以分别对该第一与第二基板施压,以使该第一与第二基板压合在一起。9.如申请专利范围第8项之装置,其中,该压合板系以不透光材质所构成,该压合板于该等间隙测量点处有复数对应之透光孔穴,以使该监测器可以量测该等间隙测量点处之该第一与第二基板之间的间隙。10.如申请专利范围第8项之装置,其中,该压合板系以透光材质所构成。11.如申请专利范围第8项之装置,其中,该压合板上设有一固定的主压臂,用以提供主要的重量分布,以及至少一移动式压臂,用以调整该重量分布。12.如申请专利范围第6项之装置,其中,该监测器系以一个或是多个光学干涉仪所构成。13.如申请专利范围第6项之装置,其中,该参数分布系为该压合器于该第一基板上所施加之重量分布。14.如申请专利范围第6项之装置,其中,该参数分布系用以控制该第一或第二基板上之温度分布。15.如申请专利范围第6项之装置,其中,该参数分布系为该第一与第二基板照射UV光的光线强度分布。图式简单说明:第1图为习知之热压合制程之示意图;第2图为本发明之热压合装置的一种实施例之示意图;第3图为第2图中之压合板的上视图;以及第4图为本发明之方法的流程图。
地址 台北巿民生东路三段一一五号五楼
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