发明名称 电喷射质量分析方法及其装置
摘要 提供一种可确实对不安定之有机金属错合物、高分子有机化合物之分子离子及碎片离子之质量进行分析的电喷射离子化质量分析方法及其装置。于电喷射离子化质量分析方法中,将包含由喷射细管所导出之溶剂的受测试料以低温气化用钝性气体A进行冷却,再以液态氮将脱溶剂室7或是离子源区8冷却,在此同时进行离子化,以分析前述受测试料的质量。
申请公布号 TW494236 申请公布日期 2002.07.11
申请号 TW089105666 申请日期 2000.03.28
申请人 科学技术振兴事业团 发明人 山口健太郎
分类号 G01N27/62 主分类号 G01N27/62
代理机构 代理人 林镒珠 台北市长安东路二段一一二号九楼
主权项 1.一种电喷射质量分析方法,其特征在于,系将包含由喷射细管所导出之溶剂的受测试料溶液以气化气体冷却后进行喷射,在将脱溶剂室与离子源区加以冷却的情况下,进行受测试料溶液的离子化,以分析受测试料之质量。2.如申请专利范围第1项之电喷射质量分析方法,其中,前述气化气体以及离子源区系位于自液态氮温度到室温之范围的低温区域。3.如申请专利范围第1项之电喷射质量分析方法,其中,前述受测试料系有机化合物。4.如申请专利范围第1项之电喷射质量分析方法,其中,前述气化气体系喷雾气体。5.如申请专利范围第1项之电喷射质量分析方法,其中,前述气化气体系氮气等钝性气体。6.如申请专利范围第1项之电喷射质量分析方法,其中,前述溶剂系水或非极性有机溶剂,以进行分子构造的分析。7.一种电喷射质量分析装置,其特征在于,系具备:(a)用以将含有溶剂之受测试料溶液加以导出之喷射细管;(b)与该喷射细管为同轴形状之可通过冷却气体之外壳管;(c)被冷却之离子源以及脱溶剂室;以及(d)使用前述溶剂进行离子化,以分析受测试料之质量的质量分析仪;其中(e)对电喷射离子源之脱溶剂室以及离子源区系直接吹送液态氮来进行冷却。8.如申请专利范围第7项之电喷射质量分析装置,其中,前述冷却气体系经由钝性气体冷却装置导入前述外壳管中。图式简单说明:图1所示系本发明之实施例之低温电喷射探测器之示意图。图2所示系本发明之实施例之藉由低温电喷射产生离子化之示意图。图3所示系在本发明之实施例上采用低温电喷射质量分析法之自动聚集有机金属错合物之化学构造图。图4所示系本发明之典型的分析结果(化合物b)之能谱图。图5所示系本发明之实施例之于CH3CN中溶解CsI时,[Cs]+对[Cs+CH3CN]+离子强度比之温度依存性。
地址 日本