TEST ENVIRONMENT FOR TESTING ELECTRONIC SYSTEMS AND METHOD FOR TESTING SYSTEMS BY MEANS OF A TEST ENVIRONMENT

摘要

Die Erfindung betrifft eine Testumgebung zur Untersuchung elektronischer Systeme, wobei die Testumgebung so gestaltet ist, dass sie Testvektoren erzeugt. Erfindungsgemäss ist die Testumgebung in voneinander verschiedene Teile aufgeteilt, wobei wenigstens ein Teil eine Kommunikation mit einem Haupt-Controller aufrechterhält, wobei wenigstens ein weiterer Teil Befehle für das zu testende elektronische System erzeugt, wobei der Teil, der die Kommunikation mit dem Haupt-Controller aufrechterhält, wenigstens teilweise aus programmierbaren Bestandteilen besteht und wobei der Teil, der Stimuli auf wenigstens einem Hardware-Beschleuniger und/oder wenigstens einem zyklenbasierten Simulator erfolgt.