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发明名称
METHOD OF MANUFACTURING A SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
<p>반도체 장치를 제조하는 방법에 있어서, 제1 희생 산화막이 기판 상에 형성된다. 그런 다음, 제1 식각 공정에서 상기 제1 희생 산화막을 선정된 깊이로 식각한 반도체 기판 상에 제2 희생 산화막이 형성된다. 여기서, 제2 희생 산화막은 제1 희생 산화막보다 더 얇다. 이어서, 제2 식각 공정 동안 기판 표면을 노출시키기 위해 제2 희생 산화막이 완전히 제거된다. 최종적으로, 산화막이 기판의 노출된 표면 상에 형성된다.</p>
申请公布号
KR100342641(B1)
申请公布日期
2002.07.04
申请号
KR19990029220
申请日期
1999.07.20
申请人
null, null
发明人
이노우에다쯔로
分类号
H01L21/316;H01L21/8234;H01L21/8247;H01L27/088;H01L27/10;H01L27/115;H01L29/788;H01L29/792
主分类号
H01L21/316
代理机构
代理人
主权项
地址
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