发明名称 Verfahren und Vorrichtung zum Charakterisieren einer Oberfläche und Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung einer Formanomalie einer Oberfläche
摘要 Bei einem Verfahren zum Charakterisieren einer Oberfläche, die eine örtlich begrenzte Unebenheit aufweist, wird zunächst eine Höhenlinie der Oberfläche als Funktion einer Ortsvariablen erzeugt. Anschließend wird die örtlich begrenzte Unebenheit in der Höhenlinie detektiert und aus der Höhenlinie eliminiert, so daß sich eine lückenhafte Höhenlinie als Funktion der Ortsvariablen ergibt, die die Oberfläche ohne die örtlich begrenzte Unebenheit charakterisiert. Die lückenhafte Höhenlinie kann verwendet werden, um entweder die Oberfläche ohne örtlich begrenzte Unebenheiten beurteilen zu können, um beispielsweise den Seiten- oder Höhenschlag eines Reifens zu bestimmen, wenn die Oberfläche eine Seitenflanke bzw. eine Lauffläche eines Fahrzeugreifens ist, oder um die örtlich begrenzten Unebenheiten ohne Einfluß der Oberfläche zu klassifizieren.
申请公布号 DE10062254(A1) 申请公布日期 2002.07.04
申请号 DE20001062254 申请日期 2000.12.14
申请人 FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FOERDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V. 发明人 HASLER, ULF;SCHMITT, PETER;KOSTKA, GUENTHER
分类号 G01B11/25;G01M17/02;G01N21/88;G06T7/00;(IPC1-7):G01B21/30;G01N21/952;G01B11/30 主分类号 G01B11/25
代理机构 代理人
主权项
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