发明名称 Verfahren zur Prüfung einer integrierten Schaltung
摘要 Bei den bisher bekannten Verfahren zur Prüfung von internen Signalen einer integrierten Schaltung waren zusätzliche Ausgangspins erforderlich, die im allgemeinen mit zusätzlichen Meßpads innerhalb der integrierten Schaltung verbunden waren. DOLLAR A Mit dem neuen Verfahren erfolgt die Prüfung von Schaltungsfunktionen anhand den Ausgangspins an denen im normalen Betrieb der integrierten Schaltung das Ausgangssignal anliegt. Durch eine einfache äußere Beschaltung mit der am Signalausgang ein vorgegebener Spannungswert eingestellt wird, wird mittels einer integrierten Steuereinheit die integrierte Schaltung in einen Testmodus umgeschaltent, in dem sie ausgewählte zu prüfende Signale an den Signalausgang anlegt. Zusätzliche interne Meßpads als auch zusätzliche Ausgangspins können entfallen.
申请公布号 DE10064478(A1) 申请公布日期 2002.07.04
申请号 DE20001064478 申请日期 2000.12.22
申请人 ATMEL GERMANY GMBH;VISHAY SEMICONDUCTOR GMBH 发明人 EICHIN, MATTHIAS;KURZ, ALEXANDER
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;G11C29/46;G11C29/48;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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