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发明名称 Time variant defect correcting method and apparatus in infrared thermal imaging system
摘要
申请公布号 GB0211999(D0) 申请公布日期 2002.07.03
申请号 GB20020011999 申请日期 2002.05.24
申请人 SAMSUNG THALES CO., LTD. 发明人
分类号 G01J1/10;H04N5/33;H04N5/367 主分类号 G01J1/10
代理机构 代理人
主权项
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