发明名称 深开挖雷射监测方法
摘要 一种深开挖雷射监测方法,适用于深开挖工程中监测一土墙的水平变位,其基本步骤包括 a.架设一雷射测距仪于一定点,调校水平后并以对准该土墙上之连续支撑壁的法线方向设为其原点方向; b.设定复数个测距点于该连续支撑壁上; c.驱动该雷射测距仪,使其雷射光束发射角度自该原点方向转动一角度以对准该复数个测距点其中之一测距点,并测出该测距点的直线距离值(L); d.转换该直线距离值为该原点方向的水平距离值(X);亦即利用该雷射测距仪的雷射光束与该原点方向的角度关系及所测出之直线距离值(L),以三角函数算出该水平距离值(X); e.重覆执行该c步骤至该d步骤,记录对各该测距点每一次所得的直线距离值(L)及水平距离值(X);及 f.计算各该测距点每一次与前一次所得之水平距离值(X)的差值为其水平变位量。藉上述步骤,将可以一雷射测距仪持续对土墙上多点进行水平变位量的监测,并可透过电脑之试算表软体加以记录、绘图并显示,将有效地提升深开挖工地之安全性与管理效能。
申请公布号 TWI291016 申请公布日期 2007.12.11
申请号 TW094139949 申请日期 2005.11.14
申请人 国立高雄应用科技大学 发明人 萧达鸿
分类号 G01C3/08(2006.01) 主分类号 G01C3/08(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种深开挖雷射监测方法,适用于深开挖工程中 监测一土墙的水平变位,其步骤系包括: a1.架设一雷射测距仪于一定点,调校水平后并以对 准该土墙之连续支撑壁的法线方向设为其原点方 向; b1.设定复数个测距点于该连续支撑壁上; c1.驱动该雷射测距仪,使其雷射光束发射角度自该 原点方向水平移动角度,垂直移动角度,以对 准该复数个测距点其中之一测距点,并测出该测距 点的直线距离値(L); d1.转换该直线距离値为该原点方向的水平距离値( X),执行一换算式为X=[L.COS().COS()]; e1.重覆执行该c1步骤至该d1步骤,记录对各该测距 点每一次所得的直线距离値(L)及水平距离値(X);及 f1.计算各该测距点每一次与前一次所得之水平距 离値(X)的差値为其水平变位量。 2.如申请专利范围第1项所述的深开挖雷射监测方 法,其中该b1步骤系包括在该土墙上固定一反光物 体,藉以反射该雷射光束返回该雷射测距仪的步骤 。 3.如申请专利范围第1项所述的深开挖雷射监测方 法,其中该土墙表面系有一连续壁,且该b1步骤系在 该连续壁上固定一反光物体的步骤,藉以反射该雷 射光束返回该雷射测距仪的步骤。 4.如申请专利范围第1项所述的深开挖雷射监测方 法,其中该d1步骤系将该直线距离値(L)输入一电子 试算表的栏位,执行该换算式者。 5.如申请专利范围第4项所述的深开挖雷射监测方 法,其中该电子试算表系在一电脑中所执行之EXCEL 软体。 6.如申请专利范围第5项所述的深开挖雷射监测方 法,其中该电子试算表尚系包括一栏位供输入一数 値,且当该水平变位量超过该数値时,即令该电脑 发出一警告信号。 7.一种深开挖雷射监测方法,适用于深开挖工程现 场监测一土墙的水平变位,其步骤系包括: a2.架设复数个雷射测距仪于该工程现场之不同深 度的定点上,分别调校水平后并各别以对准该工程 现场中之土墙上所设之连续支撑壁的法线方向设 为其原点方向; b2.设定复数个测距点于该连续支撑壁上; c2.驱动各该雷射测距仪,使其雷射光束发射角度自 该原点方向水平移动角度,垂直移动角度,以 对准该复数个测距点其中之一测距点,并测出该测 距点的直线距离値(L); d2.传输各该雷射测距仪之水平移动角度及垂直 移动角度,及所测得之直线距离値(L)至一资料处 理器; e2.利用该资料处理器分别转换来自各该雷射测距 仪的直线距离値为一水平距离値(X),执行一换算式 为X=[L.COS().COS()]; f2.重覆执行该c2步骤至该e2步骤,并记录各该雷射 测距仪对各该测距点每一次所得的直线距离値(L) 及水平距离値(X);及 g2.计算各该雷射测距仪对各该测距点每一次与前 一次所得之水平距离値(X)的差値为其水平变位量 。 8.如申请专利范围第7项所述的深开挖雷射监测方 法,其中该b2步骤系包括在该土墙上固定一反光物 体,藉以反射该雷射光束返回该雷射测距仪的步骤 。 9.如申请专利范围第7项所述的深开挖雷射监测方 法,其中该土墙表面系有一连续壁,且该b2步骤系在 该连续壁上固定一反光物体的步骤,藉以反射该雷 射光束返回该雷射测距仪的步骤。 10.如申请专利范围第7项所述的深开挖雷射监测方 法,其中该e2步骤系将来自各该雷射测距仪的平移 动角度、垂直移动角度及直线距离値(L)输入 一电子试算表的栏位,执行该换算式者。 11.如申请专利范围第10项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该电子试算表系在一电脑中所执行之 EXCEL软体。 12.如申请专利范围第11项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该电子试算表尚系包括一栏位供输入一 数値,且当该水平变位量超过该数値时,即令该电 脑发出一警告信号。 13.如申请专利范围第12项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该电脑尚含有网际网路及电子邮件软体 ,且系利用该电子邮件软体将该警告信号传至其它 电脑或一手机者。 14.一种深开挖雷射监测方法,适用于深开挖工程监 测一土墙的水平变位,其步骤系包括: a3.架设一雷射测距仪于一定点,调校水平后并以对 准该土墙之连续支撑壁的法线方向设为其原点方 向; b3.设定复数个测距点于该连续支撑壁上; c3.驱动该雷射测距仪,使录雷射光束逐一对准该复 数个测距点,并逐一记录该雷射光束与该原点方向 的夹角(),并逐一测出该测距点的直线距离値(L); d3.转换该直线距离値为该原点方向的水平距离値( X),执行一换算式为X=L.COS(); e3.重覆执行该c3步骤至该d3步骤,记录对各该测距 点每一次所得的直线距离値(L)及水平距离値(X);及 f3.计算各该测距点每一次与前一次所得之水平距 离値(X)的差値为其水平变位量。 15.如申请专利范围第14项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该b3步骤系包括在该土墙上固定一反光 物体,藉以反射该雷射光束返回该雷射测距仪的步 骤。 16.如申请专利范围第14项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该土墙表面系有一连续壁,且该b3步骤系 在该连续壁上固定一反光物体的步骤,藉以反射该 雷射光束返回该雷射测距仪的步骤。 17.如申请专利范围第14项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该d3步骤系将该直线距离値(L)输入一电 子试算表的栏位,执行该换算式者。 18.如申请专利范围第17项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该电子试算表系在一电脑中所执行之 EXCEL软体。 19.如申请专利范围第18项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该电子试算表尚系包括一栏位供输入一 数値,且当该水平变位量超过该数値时,即令该电 脑发出一警告信号。 20.一种深开挖雷射监测方法,适用于深开挖工程现 场监测一土墙的水平变位,其步骤系包括: a4.架设复数个雷射测距仪于该工程现场之不同深 度的定点上,分别调校水平后并各别以对准该工程 现场中之土墙上所设之连续支撑壁的法线方向设 为其原点方向; b4.设定复数个测距点于该连续支撑壁上; c4.驱动各该雷射测距仪,使录雷射光束逐一对准各 该复数个测距点,并逐一记录各该雷射测距仪所发 出之雷射光束与该原点方向的夹角(),并逐一测 出各该测距点的直线距离値(L); d4.传输各该雷射测距仪之夹角()及所测得之直 线距离値(L)至一资料处理器; e4.利用该资料处理器分别转换来自各该雷射测距 仪的直线距离値为一水平距离値(X),执行一换算式 为X=L.COS(); f4.重覆执行该c4步骤至该e4步骤,并记录各该雷射 测距仪对各该测距点每一次所得的直线距离値(L) 及水平距离値(X);及 g4.计算各该雷射测距仪对各该测距点每一次与前 一次所得之水平距离値(X)的差値为其水平变位量 。 21.如申请专利范围第20项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该b4步骤系包括在该土墙上固定一反光 物体,藉以反射该雷射光束返回该雷射测距仪的步 骤。 22.如申请专利范围第20项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该土墙表面系有一连续壁,且该b4步骤系 在该连续壁上固定一反光物体的步骤,藉以反射该 雷射光束返回该雷射测距仪的步骤。 23.如申请专利范围第20项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该e4步骤系将来自各该雷射测距仪的平 移动角度、垂直移动角度及直线距离値(L)输 入一电子试算表的栏位,执行该换算式者。 24.如申请专利范围第23项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该电子试算表系在一电脑中所执行之 EXCEL软体。 25.如申请专利范围第24项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该电子试算表尚系包括一栏位供输入一 数値,且当该水平变位量超过该数値时,即令该电 脑发出一警告信号。 26.如申请专利范围第25项所述的深开挖雷射监测 方法,其中该电脑尚含有网际网路及电子邮件软体 ,且系利用该电子邮件软体将该警告信号传至其它 电脑或一手机者。 图式简单说明: 第1图、系本发明之应用例。 第2图、系本发明之应用例的方块图。 第3图、系本发明之另一应用例的方块图。 第4图、系本发明应用例关于之雷射测距仪的雷射 光束与原点方向相对关系示意图。 第5图、系本发明之实施例的方块图。 第6图、系本发明之变化实施例的方块图。 第7图、系本发明另一变化实施例的方块图。 第8图、系本发明又一变化实施例的方块图。
地址 高雄市三民区建工路415号