发明名称 COMPOSITIONS FOR AND METHODS OF REDUCING/ELIMINATING SCRATCHES AND DEFECTS IN SILICON DIOXIDE CMP PROCESS
摘要
申请公布号 EP1218466(A1) 申请公布日期 2002.07.03
申请号 EP20000963316 申请日期 2000.09.05
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES NORTH AMERICA CORP.;INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 NOJO, HARUKI;SCHUTZ, RONALD, J.;RAMACHANDRAN, RAVIKUMAR
分类号 B24B37/00;C09G1/02;H01L21/304;H01L21/3105;(IPC1-7):C09G1/02;H01L21/310 主分类号 B24B37/00
代理机构 代理人
主权项
地址