| 主权项 |
1.一种检测投影品质的方法,使用一摄影模组与一影像分析模组以检测一投影装置,该方法包括下列步骤:由该摄影模组撷取一标准影像并送至该影像分析模组,而得到对应于该标准影像的至少一标准値;由该投影装置产生一检测影像;由该摄影模组撷取该检测影像并送至该影像分析模组,而得到对应于该检测影像的至少一测定値;以及根据该测定値与该标准値决定该投影装置之投影品质。2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该摄影模组包括至少一摄影装置,而各该摄影装置分别撷取该标准影像及该检测影像之不同区域。3.如申请专利范围第2项所述之方法,更包括一步骤:设置该摄影模组中之一摄影装置于一固定位置并调整之,使以该摄影装置撷取一影像后经一处理软体处理为一影像资料,然后分别设置其余摄影装置至该固定位置并调整之,使得该等摄影装置撷取该影像并经该处理软体处理后,得到相同之该影像资料。4.如申请专利范围第3项所述之方法,其中调整该摄影装置系为调整该摄影装置之焦距以及光圈。5.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该标准値与该测定値系分别为调变转换功能(MTF)値。6.一种检测投影装置品质的方法,使用一摄影模组与一影像分析模组以检测一投影机之可更换元件的品质,该方法包括下列步骤:使用一标准元件做为该投影机中之该可更换元件,并由该投影机产生一标准影像;由该摄影模组撷取该标准影像并送至该影像分析模组,而得到对应于该标准元件的至少一标准値;更换一待测元件做为该投影机中之该可更换元件,并由该投影机产生一检测影像;由该摄影模组撷取该检测影像并送至该影像分析模组,而得到对应于该待测元件的至少一测定値;以及根据该测定値与该标准値决定该待测元件之品质。7.如申请专利范围第6项所述之方法,其中该摄影模组包括至少一摄影装置,而各该摄影装置分别撷取该标准影像及该检测影像之不同区域。8.如申请专利范围第7项所述之方法,更包括一步骤:设置该摄影模组中之一摄影装置于一固定位置并调整之,使以该摄影装置撷取一影像后经一处理软体处理为一影像资料,然后分别设置其余摄影装置至该固定位置并调整之,使得该等摄影装置撷取该影像并经该处理软体处理后,得到相同之该影像资料。9.如申请专利范围第8项所述之方法,其中调整该摄影装置系为调整该摄影装置之焦距以及光圈。10.如申请专利范围第6项所述之方法,其中该可更换元件为一投影机镜头。11.如申请专利范围第6项所述之方法,其中该标准値与该测定値系分别为调变转换功能(MTF)値。图式简单说明:第1图系显示本发明一实施例之检测投影品质之设备的示意图。第2图系显示本发明一实施例中使用四个摄影装置分别撷取不同区域之影像的示意图。第3图系显示本发明之检测投影品质的流程图。 |
