发明名称 多探针单元及具备其之测量装置
摘要 即使只使用由导线与绝缘物所形成之被覆导线,为了可到实用上不成问题程度地减低从外部所侵入之杂讯或磁性转印(cross talk),具有可从外部固持之基板,与在除了端部之中间部位只施加绝缘被覆之中心导线,此中心导线之一端部不仅折弯成钩状,并且,形成有探针之多数被覆导线,与将被覆导线之探针先端,以与导电图案约略相等之节距排列,并且,对于被覆导线之一端部其中间部为被扩展为放射状,并且,备有;相邻接之被覆导线之中间部为了形成为使其从基部之距离相异之复数导线层,将被覆导线之中间部固定于基板之导线回转构件,与插入于导线层间,将导线层以电磁方式遮蔽之遮蔽板所构成。
申请公布号 TW493075 申请公布日期 2002.07.01
申请号 TW089105013 申请日期 2000.03.17
申请人 东芝股份有限公司 发明人 寺田茂树
分类号 G01R1/067;G01R1/073 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人 林志刚 台北巿南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种多探针单元,其系在密集配置之多数导电图 案,接触分别形成于各导线一端部之探针先端,将 上述导线之各他端部以电气性地连接于测定机器 者,其特征为备有; 可从外部固持之基板,与在除了端部之中间部位具 有只施加被覆导线之中心导体,此中心导体一端部 为被折弯成钩状,形成探针之多数被覆导线,与 将上述被覆导线之探针先端,与上述导电图案约略 相等之节距排列,并且,对于上述被覆导线一端部 将中间部扩展成放射状,并且,使邻接之上述被覆 导线中间部,与上述基板之距离可互相相异,将上 述邻接之被覆导线之各个中间部固定于上述基板 之导线固定构件,与插入于上述导线层间,将上述 导电层互相从其他以电磁性地遮蔽之遮蔽板。2. 如申请专利范围第1项之多探针单元,其中将从一 方侧端算起第奇数之上述被覆导线作为第1导线层 ,将从一方侧端算起第偶数之上述被覆导线作为第 2导线层,在上述第1及第2导线层间配置上述遮蔽板 。3.如申请专利范围第2项之多探针单元,其中上述 第1导电层与上述第2导电层,系互相位于上下,上述 遮蔽板系配置于被配置成上下之上述第1及第2导 电层间。4.如申请专利范围第1项之多探针单元,其 中具备;具有装着于上述基板之连接器,被支持于 上述基板之可挠性印刷电路板,与对应于上述导线 层之复数配线层,形成于这些配线层间之遮蔽层, 将上述配线层之一方配线端连接于所对应之上述 导线层之各导线之他端部,将上述配线层之他方配 线端连接于上述连接器之端子,将上述遮蔽层连接 于上述导线层间之遮蔽板所成之可挠性印刷电路 板。5.如申请专利范围第1项之多探针单元,其中将 上述遮蔽板接地。6.如申请专利范围第1项之多探 针单元,其中作为被测定对象之上述导电图案,系 于液晶显示基板之扫描线驱动电路及影像讯号驱 动电路之电极。7.一种多探针单元,其系使用于电 气性地检查者,其特征为;具有接触于作为被检查 对象之相邻所排列之复数导电图案之复数探针,这 些探针之中,抵接于上述导电图案之第偶数与第奇 数之相邻之各2个之各2个上述探针系向厚度方向 离开配置成上下,在这些2个上下探针间,配设给与 电气性遮蔽作用之导电体制之遮蔽板。8.一种测 定装置,其特征为由具备: 具有;至少内藏测定机器之外部装置,与 对此外部装置以电气性地连接之多探针单元, 上述多探针单元,系对于被密集配置之多数导电图 案,接触形成于各个导线一端部之探针先端,将上 述导线之各他端部以电气性地连接于测定机器者, 可从外部固持之基板,与 具有在除了端部之中间部位只施加绝缘被覆之中 心导体,此中心导体一端部为被折弯成钩状,形成 探针之多数被覆导线,与 将上述被覆导线之探针先端,与上述导电图案约略 相等之节距排列,并且,对于上述被覆导线一端部 将中间部扩展成放射状,并且,邻接之上述被覆导 线中间部与上述基板之距离为能够互相相异将上 述邻接之被覆导线之各中间部固定于上述基板之 导线固定构件,与 插入于上述导电层间,将上述导电层互相从其他以 电磁性地遮蔽板。9.如申请专利范围第8项之测定 装置,其中于上述多探针单元,将从一方侧端算起 第奇数之上述被覆导线作为第1导线层,将从一方 侧端算起第偶数之上述被覆导线作为第2导线层, 在上述第1及第2导线层间配置上述遮蔽板。10.一 种测定装置,其特征为具备; 至少内藏有测定机器之外部装置,与 在此外部装置以电气性地连接之多探针单元,具有 接触于作为被检查对象相邻所排列之复数导电图 案之复数之探针,这些探针之中,抵接于上述导电 图案之第偶数与第奇数之相邻之各2个之各2个之 上述探针,系向厚度方向离开配置成上下,在这些2 个上下之探针间,配设给与电气性遮蔽作用之导电 体制之遮蔽板之多探针单元。图式简单说明: 第1图(a),第1图(b),第1图(c)系将有关本发明之多探 针单元一实施形态之构成,与主要构成元件一并表 示之纵剖面图及底面图。 第2图(a),第2图(b)系将有关习知之多探针单元之构 成,与主要构成元件一并表示之斜视图。 第3图系使用本发明之多探针单元将液晶显示基板 以电气性检查之测定装置。
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