| 发明名称 |
INTEGRATED CIRCUIT TESTING METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL351223(A1) |
申请公布日期 |
2002.07.01 |
| 申请号 |
PL20010351223 |
申请日期 |
2001.12.17 |
| 申请人 |
VISHAY SEMICONDUCTOR GMBH;ATMEL GERMANY GMBH |
发明人 |
EICHIN MATTHIAS;KURZ ALEXANDER |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G11C29/46;G11C29/48;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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