Zur besonders einfachen und sicheren Handhabung von dünnen und/oder gebogenen Halbleiterwafern wird bei einer entsprechenden Halteeinrichtung (100) vorgeschlagen, dass mindestens eine erste Einrichtung (5) zum Erzeugen von einen Halbleiterwafer zur Einrichtung (100) hin ziehenden Kräften aufgrund des Bernoulliprinzips durchströmendes Gas vorgesehen ist und dass mindestens eine zweite Einrichtung (2, 3) zum Halten des Halbleiterwafers an der Einrichtung (100) aufgrund durch wenigstens ein elektromagnetisches Feld erzeugte Kräfte vorgesehen ist.
申请公布号
DE10062011(A1)
申请公布日期
2002.06.27
申请号
DE20001062011
申请日期
2000.12.13
申请人
INFINEON TECHNOLOGIES AG
发明人
MATSCHITSCH, MARTIN;PUCHER, GERHARD;UNTERWEGER, JOSEF;ZERLAUTH, STEFAN;BINDER, ALFRED;SCHERF, WERNER;AIGNER, KURT;KROUPA, GERHARD