发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur In-situ-Dekontamination eines EUV-Lithographiegerätes
摘要 EUV-Lithographiegeräte weisen zwar in ihrem Inneren ein Vakuum oder eine Inertgasatmosphäre auf, es läßt sich aber nicht völlig verhindern, daß sich auch Kohlenwasserstoffe und/oder sonstige Kohlenstoffverbindungen innerhalb des Gerätes befinden. Diese Kohlenstoffverbindungen führen zur Kontamination der optischen Elemente, die dadurch an Reflektivität verlieren. Um dem entgegenzuwirken, wird vorgeschlagen, während des Betriebes des EUV-Lithographiegerätes kontinuierlich den Kontaminationsgrad festzustellen, z. B. mittels Quarzkristallmikrowaagen. In Abhängigkeit vom Kontaminationsgrad wird dem Inneren des Lithographiegerätes Sauerstoff zugeführt. Der Sauerstoff in Verbindung mit der Belichtungsstrahlung baut die Kontamination während des Betriebes des Lithographiegerätes wieder ab. Das EUV-Lithographiegerät ist dazu mit mindestens einer Messeinrichtung (3) und einer damit verbundenen Kontroll- und Steuereinheit (4) ausgerüstet, die ihrerseits mit einer Sauerstoffzufuhr (5a) verbunden ist.
申请公布号 DE10061248(A1) 申请公布日期 2002.06.27
申请号 DE20001061248 申请日期 2000.12.09
申请人 CARL ZEISS 发明人 HAMM, UWE W.
分类号 G03F7/20;H01L21/027;(IPC1-7):G03F7/20;G01B17/02;G01B11/02 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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