发明名称 Acid polishing slurry for the chemical mechanical polishing of SiO2-isolation layers
摘要 Eine saure Polierslurry für das chemisch-mechanische Polieren, enthaltend 0,1 bis 5 Gew.-% eines kolloidalen Siliciumdioxid-Abrasivs und 0,5 bis 10 Gew.-% eines Fluoridsalzes, zeichnet sich durch eine höhere Polierselektivität bezüglich der Geschwindigkeit zum Entfernen von Siliciumdioxid gegenüber Siliciumnitrid im Vergleich mit einer herkömmlichen Polierslurry mit pyrogener Kieselsäure aus.
申请公布号 EP1217651(A1) 申请公布日期 2002.06.26
申请号 EP20010128487 申请日期 2001.12.07
申请人 BAYER AG 发明人 VOGT, KRISTINA, DR.;PUPPE, LOTHAR, DR.;MIN, CHUN-KUO;CHEN, LI-MEI, DR.
分类号 B24B37/00;C09C1/68;C09G1/02;C09K3/14;H01L21/304;H01L21/3105;(IPC1-7):H01L21/321;H01L21/306 主分类号 B24B37/00
代理机构 代理人
主权项
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