| 主权项 |
1.一种光学式读写头,具有:半导体雷射元件,用以将雷射光照射于资讯纪录媒体;及反射机构,将在前述资讯纪录媒体反射回来的前述雷射光加以反射,其特征系:在前述反射机构之前述雷射光的反射率,越偏离前述雷射光之光轴越增加。2.如申请专利范围第1项之光学式读写头,其更具备受光元件,接收以前述反射机构所反射之雷射光。3.如申请专利范围第1项之光学式读写头,其中,使用偏光性光分束机构作为前述反射机构,用以将在前述资讯纪录媒体反射回来的前述雷射光加以分束。4.如申请专利范围第3项之光学式读写头,其中,前述偏光性光分束机构系偏光光分束器。5.如申请专利范围第3项之光学式读写头,其中,当相对于在前述资讯纪录媒体反射回来的前述雷射光之前述偏光性光分束机构的反射面之入射角度为45时,前述雷射光之P偏光成分的反射率变为最小。6.如申请专利范围第3项之光学式读写头,其中,当相对于在前述资讯纪录媒体反射回来的前述雷射光之前述偏光性光分束机构的反射面之入射角度为45时,前述雷射光之S偏光成分的反射率变为最小。7.如申请专利范围第1项之光学式读写头,其更具备:绕射机构,将由前述半导体雷射元件所射出之前述雷射光分束成包含先行副光束、及后行副光束之复数副光束;及检出机构,用以检出跟踪误差信号;并且,将来自与前述先行副光束或后行副光束相关之前述资讯记录媒体的反射光,以前述反射机构加以反射,并使用该反射光检出跟踪误差信号。8.如申请专利范围第1项之光学式读写头,其更具备:绕射机构,将由前述半导体雷射元件所射出之前述雷射光分束成包含先行副光束、及后行副光束之复数副光束;及检出机构,用以检出资讯信号及跟踪误差信号;并且,将来自与前述先行副光束或后行副光束相关之前述资讯记录媒体的反射光,以前述反射机构加以反射,进而以偏光性光分束机构将该反射光分束成P偏光成分及S偏光成分之2光束,在同一受光领域检出前述2光束后,检出前述资讯信号及前述跟踪误差信号。图式简单说明:图1系表示本发明之第1实施形态之光学式读写头装置的构成之配置图。图2A系表示用于本发明之第1实施形态之光学式读写头装置之半导体雷射元件,由其射出之雷射光的光强度之出射角依存性之图;图2B系表示用于本发明之第1实施形态之光学式读写头装置之偏光光束分离器的反射率之入射角依存性之图;图2C系表示用于本发明之第1实施形态之光学式读写头装置之跟踪误差信号强度之对物透镜偏离依存性之图。图3系表示本发明之第2实施形态之光学式读写头装置的构成之配置图。图4系表示图3之光学单元之截面图。图5系表示图4之受光基板之俯视图。图6系图3及图4所示之全习照相光学元件之部分俯视图。图7系表示习知技术之光学式读写头装置的光学系统及资讯记录媒体之配置图。图8A系表示用于习知技术之光学式读写头装置之半导体雷射元件,由其射出之雷射光的光强度之出射角依存性之图;图8B系表示用于习知技术之光学式读写头装置之跟踪误差信号强度之对物透镜偏离依存性之图。 |
