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1.一种测量于一反射型液晶显示元件之一液晶层 厚度d之方法,该液晶层具有经过对正处理的上及 下表面以及具有于厚度方向均匀一致的双折射指 数n,该反射型液晶显示元性,包含液晶层介于一 对基材间以及具有反射区至少于基材之一之一部 分,该方法包括: 一个光接收步骤,来自光源的光透过第一偏振装置 进入液晶层内部,以及透过第二偏振装置接收经由 于反射区反射而由液晶层射出的反射光; 一个分散步骤,系将由光接收装置接收的反射光进 行光谱分割而侦测波长与反射光强度间之关系; 一个波长导出步骤,系找出可满足维持偏振面条件 之波长,在于反射光返回仍然维持于进入时的偏振 面相同的偏振面,换言之,反射光之寻常与异常射 线间之光径长度差异为波长及半波长整数倍数之 和,或波长的整数倍数; 一个nd之导出步骤,由波长导出步骤找到的波 长以及液晶层的已知扭转角找出合理的nd俾 由多种波长与nd的组合找出波长与nd间之 关系;以及 一个厚度导出步骤,经由指定一种波长与n的 已知组合给关系式而找出厚度d。2.如申请专利范 围第1项之测量厚度之方法,其中该波长导出步骤 系经由找出反射光强度获得极端値的波长値进行 。3.如申请专利范围第1项之测量厚度之方法,其中 琼斯(Jones)矩阵系用于该nd导出步骤。4.如申 请专利范围第3项之测量厚度之方法,其中以/ 为n或n+1/2(n为整数)为例,当=nd/...(式1 )以及=√(1+2)...(式2)时,其中为液晶层已 知扭角,合理/値系由维持反射光偏振面时的 波长、扭角以及方程式1及2找出;以及波长与 nd间之关系系由所得/値计算找出。5.如 申请专利范围第1项之测量厚度之方法,其中该第 一偏振装置之透射轴于该第二偏振装置之透射轴 彼此正交。6.如申请专利范围第1项之测量厚度之 方法,其中该第一偏振装置之透射轴于该第二偏振 装置之透射轴彼此平行。7.如申请专利范围第1项 之测量厚度之方法,其中由第一偏振装置之透射轴 与接触光进入基材的液晶层平面上的对正方向形 成的夹角设为,对于0度至90度范围的多个进行 光接收步骤、分散步骤以及波长导出步骤。8.如 申请专利范围第1项之测量厚度之方法,其中考奇( Cauchy)分散式用于该nd导出步骤。9.如申请专 利范围第1项之测量厚度之方法,其中该反射区具 有漫射性,以及光系由光接收装置接收于偏离对应 入射之正反射方向的位置。10.一种测量厚度之装 置,包含: 一光源; 一第一偏振装置,用以透射来自光源的光; 一第二偏振装置,用以透射于欲测量物件反射的反 射光; 一光接收装置,用以接收经由第二偏振装置透射的 反射光; 一分散装置,用以光谱分割由光接收装置接收的反 射光俾侦测波长与反射光强度间之关系; 一波长导出装置,用以找出满足维持偏振面条件之 波长,其中反射光返回而维持于入射时的偏振面的 相同偏振面,亦即反射光之寻常射线与异常射线间 之光径长度差异为波长整数倍数与半波长之和,或 波长整数倍数; 一nd导出装置,用以由波长导出装置找到的波 长以及液晶层之已知扭角找出合理nd,俾由波 长与nd之多种组合找出波长与nd间之关系 式;以及 一厚度导出装置,用以经由指定一种已知波长以 及n组合给关系式而找出厚度d。11.如申请专利 范围第10项之测量厚度之装置,其中该波长导出装 置系经由找出反射光强度获得极端値的波长値进 行。12.如申请专利范围第10项之测量厚度之装置, 其中该琼斯矩阵用于该nd导出装置。13.如申 请专利范围第12项之测量厚度之装置,其中以/ 为n或n+1/2(n为整数)为例,当=nd/...(式1 )以及=√(1+ 2)...(式2)时,其中为液晶层已知扭角,合理/ 値系由维持反射光偏振面时的波长、扭角 以及方程式1及2找出;以及波长与nd间之关系 系由所得/値计算找出。14.如申请专利范围第 10项之测量厚度之装置,其中该第一偏振装置之透 射轴于该第二偏振装置之透射轴彼此正交。15.如 申请专利范围第10项之测量厚度之装置,其中该第 一偏振装置之透射轴于该第二偏振装置之透射轴 彼此平行。16.如申请专利范围第10项之测量厚度 之装置,其中由第一偏振装置之透射轴与接触光进 入基材的液晶层平面上的对正方向形成的夹角设 为,对于0度至90度范围的多个进行光接收装置 、分散装置以及波长导出装置。17.如申请专利范 围第10项之测量厚度之装置,其中该nd导出步 骤系使用考奇分散式。18.如申请专利范围第10项 之测量厚度之装置,其中该反射区具有漫射性,以 及光系由光接收装置接收于偏离对应入射之正反 射方向的位置。19.一种于一反射型液晶显示元件 测量液晶层厚度d之方法,该液晶层具有经过对正 处理之上及下表面以及于厚度方向均匀一致的双 折射指数n,该反射型液晶显示元件,包含该液晶 层介于对基材间以及具有一个反射区至少于其中 一基材之一部分,该方法包括: 一光接收步骤,其系透过第一偏振装置接收来自单 色光源的入射光至液晶层内部,该入射光具有液晶 之双折射指数n为已知的波长,以及透过第二偏 振装置接收由液晶层射出的于反射区反射的反射 光; 一旋转光接收步骤,该步骤接收光同时改变旋转角 度,该角度系由上方观视时由第一及第二偏振装置 与液晶层形成的夹角,经由结合光接收步骤而维持 由第一偏振装置以及第二偏振装置个别的透射轴 形成的夹角维持恒定; 一角度导出步骤,找出可满足偏振面维持条件的旋 转角,该条件在于反射光返回时维持于入射时的偏 振面的相同偏振面,换言之,介于反射光的寻常射 线与异常射线间的光径长度差为波长整数倍数与 半波长之和,或波长整数倍数;以及 一厚度导出步骤,由合理nd找出厚度d,该合理 nd系根据预定波长与由角度导出步骤找到的 角度与液晶层已知扭角导出的nd间之关系式 选定。20.如申请专利范围第19项之测量厚度之方 法,其中该角度导出步骤系经由找出反射光强度获 得极端値的旋转角値进行。21.如申请专利范围第 19项之测量厚度之方法,其中琼斯矩阵用于于厚度 导出步骤找出nd。22.如申请专利范围第21项之 测量厚度之方法,其中以设第一偏振装置透射轴与 液晶层入射侧面对正方向夹角假设为,以及设液 晶层扭角为为例,由维持反射光偏振面的角度 以及由已知扭角可找出合理nd/値,俾由所 得nd/値求出于波长时的nd。23.如申 请专利范围第19项之测量厚度之方法,其中该第一 偏振装置之透射轴于该第二偏振装置之透射轴彼 此正交。24.如申请专利范围第19项之测量厚度之 方法,其中该第一偏振装置之透射轴于该第二偏振 装置之透射轴彼此平行。25.如申请专利范围第19 项之测量厚度之方法,其中该反射区具有漫射性, 以及由光接收装置接收的光系位在偏离对应入射 光之正反射方向之位置。26.一种导出角度之装置, 包含: 一单色光源; 一第一偏振装置,用以透射来自该单色光源之光; 一第二偏振装置,用以透射于欲测量物件反射的反 射光; 一光接收装置,用以接收经由第二偏振装置透射的 反射光; 一旋转光接收装置,用以接收光同时改变旋转角, 该旋转角系由上方观视时藉第一及第二偏振装置 与液晶层形成的夹角,经由结合光接收装置而维持 由第一偏振装置以及第二偏振装置个别的透射轴 形成的夹角为恒定;以及 一角度导出装置,用以找出可满足偏振面维持条件 的旋转角,在于反射光返回而维持与入射时的偏振 面相同的偏振面,换言之,反射光之寻常射线与异 常射线间之光径长度差为波长的整数倍数以及半 波长之合,或波长的整数倍数。27.一种测量厚度之 装置,包含: 一单色光源; 一第一偏振装置,用以透射来自该单色光源之光; 一第二偏振装置,用以透射于欲测量物件反射之反 射光; 一光接收装置,用以接收经由第二偏振装置透射之 反射光; 一旋转光接收装置,用以接收光同时改变旋转角, 该旋转角为由上方观视时藉第一及第二偏振装置 与液晶层形成的夹角,经由结合光接收装置,维持 由第一偏振装置以及第二偏振装置个别的透射轴 形成的夹角为恒定; 一角度导出装置,用以找出可满足偏振面维持条件 之旋转角,该条件在于反射光返回时维持入射时偏 振面的相同偏振面,换言之,反射光之寻常射线以 及异常射线之光径长度为波长之整数倍数与半波 长之和,或为波长的整数倍数; 一nd导出装置,用以求出波长与由角度导出 装置找到的角度之nd间之关系式;以及 一厚度导出装置,用以经由使用波长以及已知 n而找出厚度d。28.如申请专利范围第27项之测量厚 度之装置,其中该角度导出装置系经由找出反射光 强度获得极端値之旋转角度値进行。29.如申请专 利范围第27项之测量厚度之装置,其中琼斯矩阵用 于该nd导出装置。30.如申请专利范围第29项之 测量厚度之装置,其中以设第一偏振装置透射轴与 液晶层入射侧面对正方向夹角假设为,以及设液 晶层扭角为为例,由维持反射光偏振面的角度 以及由已知扭角可找出合理nd/値,俾由所 得nd/値求出于波长时的nd。31.如申 请专利范围第27项之测量厚度之装置,其中该第一 偏振装置之透射轴于该第二偏振装置之透射轴彼 此正交。32.如申请专利范围第27项之测量厚度之 装置,其中该第一偏振装置之透射轴于该第二偏振 装置之透射轴彼此平行。33.如申请专利范围第27 项之测量厚度之方法,其中该反射区具有漫射性, 以及由光接收装置接收的光系位在偏离对应入射 光之正反射方向之位置。34.一种导出波长之装置, 包含: 一光源; 一第一偏振装置,用以透射来自该光源之光; 一第二偏振装置,用以透射于欲测量物件反射之反 射光; 一光接收装置,用以接收经由第二偏振装置透射的 反射光; 一分散装置,用以光谱分割由光接收装置接收的反 射光俾侦测波长与反射光强度间之关系式;以及 一波长导出装置,用以找出一种满足偏振面维持条 件之波长,该条件中反射光返回时维持于入射时的 偏振面相同的偏振面,换言之,反射光之寻常射线 与异常射线间之光径强度为波长整数倍数与半波 长之和,或为波长的整数倍数。图式简单说明: 图1为根据本发明之第一具体实施例之测量装置之 示意图; 图2显示一座标系; 图3为线图显示値之/値,此处射出光强度为0 ; 图4为线图显示根据本发明之第一具体实施例于 =0.0度以及正交相位之光谱; 图5为线图显示根据本发明之第一具体实施例于 =22.5度以及正交相位之光谱; 图6为线图显示根据本发明之第一具体实施例于 =45.0度以及正交相位之光谱; 图7为线图显示根据本发明之第一具体实施例于 =67.5度以及正交相位之光谱; 图8为线图显示根据本发明之第一具体实施例于 =90.0度以及正交相位之光谱; 图9为线图显示根据本发明之第一具体实施例波长 与nd间的之关系; 图10为线图显示根据本发明之第二具体实施例于 =0度以及'=60度之光谱; 图11为线图显示根据本发明之第三具体实施例于 =45.0度以及平行相位之光谱; 图12为线图,显示习知方法1与根据本发明之方法间 的比较; 图13为线图,显示根据本发明之第四具体实施例于 =45.0度以及于正交相位之光谱; 图14为线图,显示根据本发明之第四具体实施例之 波长与nd间之关系; 图15为线图,显示根据本发明之第四具体实施例于 =45.0度以及于正交相位之光谱; 图16为线图,显示根据本发明之第四具体实施例于 =67.5度以及于正交相位之光谱; 图17为线图,显示根据本发明之第五具体实施例之 nd/与满足偏振面维持条件之间之关系; 图18为线图,显示根据本发明之第五具体实施例用 于第一具体实施例之液晶晶格之与反射光强度 间之交互关系; 图19为线图,显示根据本发明之第五具体实施例用 于第四具体实施例之图15之液晶晶格之与反射 光强度间之交互关系; 图20为习知透射型液晶显示器之剖面图; 图21为习知反射型液晶显示器之剖面图;以及 图22为反射型彩色液晶显示器之剖面图,其中一反 射器系设置于一晶格内部。 |
