发明名称 ferramenta de microrresistividade de perfilagem durante a perfuração, e método para perfilagem por microrresitividade em múltiplas profundidades de investigação
摘要 ferramenta de microrrestividade de perfilagem durante a perfuração, e método para perfilagem por microrresistividade em múltiplas profundidades de investigação. uma ferramenta de perfilagem por microrrestividade (100) inclui um eletrodo de dupla função (180) implantado entre um eletrodo de proteção (160) e um eletrodo de retorno (170). um circuito de acionamento (210) permite que o potencial elétrico do eletrodo de dupla função (180) seja controlado de forma independente, de modo a controlar uma profundidade de investigação de uma medição de microrresistividade. a profundidade de investigação tende a aumentar com o aumento do potencial elétrico do eletrodo de dupla função (180).
申请公布号 BR112012009177(A2) 申请公布日期 2016.08.16
申请号 BR20121109177 申请日期 2010.10.19
申请人 SMITH INTERNATIONAL, INC. 发明人 TSILI WANG
分类号 E21B47/00;G01V3/20 主分类号 E21B47/00
代理机构 代理人
主权项
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