发明名称 Method and apparatus for testing a fingerprint recognition device
摘要 본 발명에 따른 지문인식기 성능 검사 장치는 상기 지문인식기와 제1 통신경로로 연결되며, 상기 지문인식기의 성능을 검사하는 테스트 프로그램이 내장되어 있는 메모리부, 상기 지문인식기와 제2 통신경로를 통해 연결되며, 상기 메모리부의 테스트 프로그램이 상기 지문인식기의 성능 검사를 순차적으로 실행하도록 제어하고, 성능 검사 항목별로 성능 검사 결과를 표시하는 화면부를 포함하는 컴퓨터를 포함하며, 상기 컴퓨터는 에러가 발생한 성능 검사 항목만을 재검사하도록 제어하는 것을 특징으로 한다.
申请公布号 KR101651570(B1) 申请公布日期 2016.09.05
申请号 KR20140050741 申请日期 2014.04.28
申请人 에스테크놀러지(주) 发明人 안석철;최영
分类号 G01R1/02;G01R31/28;G06K9/00 主分类号 G01R1/02
代理机构 代理人
主权项
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