发明名称 | 液晶面板的评价方法和评价装置 | ||
摘要 | 本发明的课题是,提供可以比现有方法以更高的精度获得关于液晶层信息的一种新型的液晶面板评价方法和评价装置。使入射光学系统中的偏振片25具有与设定方向平行的偏振光偏振轴25t。光线在通过该偏振片25以后形成其振动面包含上述偏振光偏振轴25t方向的线偏振光L<SUB>i</SUB>,它以入射角θ<SUB>i</SUB>入射到液晶面板10。与此相对照,上述检测光学系统被设定成用来检测以入射角θ<SUB>i</SUB>入射的线偏振光L<SUB>i</SUB>中的镜面反射光。以与入射角θ<SUB>i</SUB>大致相等的出射角θ。从液晶面板10出射的镜面反射光入射到偏振片26,最后被导入上述光检测器29。偏振片26有一个偏振光吸收轴26a,它以光路为基准平行于偏振片25的偏振光偏振轴25t。 | ||
申请公布号 | CN1354360A | 申请公布日期 | 2002.06.19 |
申请号 | CN01139340.8 | 申请日期 | 2001.11.21 |
申请人 | 精工爱普生株式会社 | 发明人 | 黑岩雅宏 |
分类号 | G01N21/21;G01N21/47;G01N21/88;G01J3/447 | 主分类号 | G01N21/21 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 杨凯;叶恺东 |
主权项 | 1.一种用来对液晶面板进行光学评价的液晶面板评价方法,其特征在于:使一束具有设定状态的偏振光入射到上述液晶面板,使它的镜面反射光中通过了上述液晶面板所设液晶层的偏振分量的比率增大作为检测光,然后根据该检测光对液晶面板进行评价。 | ||
地址 | 日本东京都 |