INFRARED IMAGING OF (ULTRA)SONICALLY EXCITED SUBSURFACE DEFECTS IN MATERIALS,申请号EP20000963516-传众专利搜索

发明名称	INFRARED IMAGING OF (ULTRA)SONICALLY EXCITED SUBSURFACE DEFECTS IN MATERIALS
摘要
申请公布号	EP1214588(A1)	申请公布日期	2002.06.19
申请号	EP20000963516	申请日期	2000.09.15
申请人	WAYNE STATE UNIVERSITY	发明人	THOMAS, ROBERT, L.;FAVRO, LAWRENCE, D.;HAN, XIAOYAN;OUYANG, ZHONG;SUI, HUA;SUN, GANG
分类号	G01N25/72;G01N29/04;G01N29/22;G01N29/24;G01N29/28;G01N29/34;G01N29/46;(IPC1-7):G01N29/24	主分类号	G01N25/72
代理机构		代理人
主权项
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