| 摘要 |
<p>본 발명은 반도체 칩이 장착되는 비 지 에이기판인 단일(One Piece) 패키지 기판의 지그 핀을 통한 전기 특성 검사시, 스트립 형태의 패키지 기판을 연속 검사하여 단일 패키지 기판으로 손쉽고, 용이하게 제작할 수 있도록한 단일 패키지 기판의 전기 검사장치에 관한 것으로 그 기술적인 구성은, 상측으로 회로 패턴부(120)가 각각 인쇄되는 다수의 패키지 기판(110)이 일체로 스트립 형태로 연설토록 되며, 상기 스트립상으로 연속 배열되는 각각의 패키지 기판(110) 사이에는 단일 패키지 기판(110)의 분리를 위하여 절단홈(130)이 형성되고, 상기 연속 배열되는 패키지 기판(110)의 스트립 양측 단부에는 기판의 고정을 위한 기판 가이드 홀(140)이 형성되어 상기 기판 가이드 홀(140) 내부에는 기판 고정핀(150)이 내삽토록 되며, 이때 상기 스트립(160)에는 기판 가이드홀(140)의 형성을 위한 여유부(170)가 형성되는 것을 요지로 한다.</p> |
